ISO/TC 172/SC 9
| Project No. | ISO 11670:1999 |
|---|---|
| Title | <p> La présente Norme internationale définit les méthodes de détermination de la stabilité de visée du faisceau. Les méthodes d'essai données dans la présente norme sont destinées à être utilisées pour l'essai et la caractérisation des lasers. </p> |
| Registration number (WIID) | 19594 |
| Scope | <p> La présente Norme internationale définit les méthodes de détermination de la stabilité de visée du faisceau. Les méthodes d'essai données dans la présente norme sont destinées à être utilisées pour l'essai et la caractérisation des lasers. </p> |
| Status | Atcelts |
| ICS group | 31.260 |