ISO/TC 172/SC 9
| Project No. | ISO 11254-2:2001 |
|---|---|
| Title | <p> La présente partie de l'SO 11254 spécifie une méthode d'essai pour déterminer le seuil d'endommagement causé par un rayonnement laser simple sur les surfaces optiques soumises à une succession d'impulsions laser. </p> |
| Registration number (WIID) | 21142 |
| Scope | <p> La présente partie de l'SO 11254 spécifie une méthode d'essai pour déterminer le seuil d'endommagement causé par un rayonnement laser simple sur les surfaces optiques soumises à une succession d'impulsions laser. </p> |
| Status | Atcelts |
| ICS group | 31.260 |