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La présente Norme européenne décrit la méthode d’essai non destructif permettant la détermination des contraintes macroscopiques résiduelles ou appliquées non destructive par une analyse de la diffraction des rayons X dans la zone proche de la surface d’une éprouvette ou d’un composant polycristallin.
Tous les matériaux présentant un degré de cristallinité suffisant peuvent être analysés, mais des limitations peuvent intervenir dans les cas suivants (de brèves indications sont donnée à l’article 12) :
gradient de contraintes ;
gradient des paramètres de réseau ;
rugosité de surface ;
surfaces non planes (voir en 5.1.2) ;
matériaux fortement texturés ;
matériau à grains grossiers (voir en 5.1.4) ;
matériaux à plusieurs phases ;
recouvrement des raies de diffraction ;
raies de diffraction larges.
Les procédures spécifiques mises au point pour la détermination des contraintes résiduelles dans les cas énumérés ci-dessus ne sont pas couvertes par le présent document.
La méthode décrite est basée sur la technique de dispersion angulaire avec géométrie de réflexion telle que définie dans l’EN 13925-1.
Les recommandations figurant dans le présent document sont applicables à l’analyse des contraintes lorsque seul le décalage de la raie de diffraction est déterminé.
La présente norme européenne ne couvre pas les méthodes d’analyse des contraintes résiduelles basées sur les émissions de rayons X par synchrotron et elle n’examine pas de façon exhaustive tous les domaines d’application possibles.
Protection contre les rayons. L’exposition d’une quelconque partie du corps humain à des rayons X peut s'avérer dangereux. A chaque fois que du matériel à rayons X est utilisé, il convient donc que des précautions appropriées soient prises afin de protéger l’opérateur et toute autre personne située à proximité.
Reģistrācijas numurs (WIID)
21212
Darbības sfēra
La présente Norme européenne décrit la méthode d’essai non destructif permettant la détermination des contraintes macroscopiques résiduelles ou appliquées non destructive par une analyse de la diffraction des rayons X dans la zone proche de la surface d’une éprouvette ou d’un composant polycristallin.
Tous les matériaux présentant un degré de cristallinité suffisant peuvent être analysés, mais des limitations peuvent intervenir dans les cas suivants (de brèves indications sont donnée à l’article 12) :
gradient de contraintes ;
gradient des paramètres de réseau ;
rugosité de surface ;
surfaces non planes (voir en 5.1.2) ;
matériaux fortement texturés ;
matériau à grains grossiers (voir en 5.1.4) ;
matériaux à plusieurs phases ;
recouvrement des raies de diffraction ;
raies de diffraction larges.
Les procédures spécifiques mises au point pour la détermination des contraintes résiduelles dans les cas énumérés ci-dessus ne sont pas couvertes par le présent document.
La méthode décrite est basée sur la technique de dispersion angulaire avec géométrie de réflexion telle que définie dans l’EN 13925-1.
Les recommandations figurant dans le présent document sont applicables à l’analyse des contraintes lorsque seul le décalage de la raie de diffraction est déterminé.
La présente norme européenne ne couvre pas les méthodes d’analyse des contraintes résiduelles basées sur les émissions de rayons X par synchrotron et elle n’examine pas de façon exhaustive tous les domaines d’application possibles.
Protection contre les rayons. L’exposition d’une quelconque partie du corps humain à des rayons X peut s'avérer dangereux. A chaque fois que du matériel à rayons X est utilisé, il convient donc que des précautions appropriées soient prises afin de protéger l’opérateur et toute autre personne située à proximité.
