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Le présent document décrit la méthode d’essai permettant de déterminer les contraintes résiduelles dans les matériaux polycristallins par la méthode de diffraction des rayons X au synchrotron. La méthode peut être appliquée aux matériaux homogènes et non homogènes, y compris ceux contenant des phases distinctes.
Des informations sont fournies sur la manière de réaliser les évaluations des contraintes résiduelles par la technique de diffraction des rayons X au synchrotron en ce qui concerne :
— la sélection appropriée de plans réticulaires de diffraction sur lesquels il convient d’effectuer des mesurages pour différentes catégories de matériaux ;
— les directions de l’éprouvette dans lesquelles il convient d’effectuer les mesurages ;
— le volume de matériau examiné en fonction de la taille du grain et de l’état de contrainte visé ;
— le choix de la référence (échantillon) sans contrainte facilitant le calcul de déformation résiduelle ;
— les méthodes disponibles pour calculer les contraintes résiduelles à partir des mesures de déformation.
Des modes opératoires sont présentés pour l’étalonnage des appareils de diffraction des rayons X au synchrotron, permettant :
— le positionnement et l’alignement corrects des pièces d’essai ;
— la définition précise du volume de matériau échantillonné aux fins des mesurages individuels ;
mais aussi pour :
— la réalisation des mesurages ;
— la réalisation des modes opératoires pour l’analyse des résultats ;
— la détermination de leurs incertitudes.
Les principes de la technique de diffraction des rayons X au synchrotron sont décrits et mis en perspective avec l’EN 15305:2008 et l’EN ISO 21432:2020 qui sont utilisées pour évaluer les contraintes dans la masse d’une éprouvette.
Reģistrācijas numurs (WIID)
76838
Darbības sfēra
Le présent document décrit la méthode d’essai permettant de déterminer les contraintes résiduelles dans les matériaux polycristallins par la méthode de diffraction des rayons X au synchrotron. La méthode peut être appliquée aux matériaux homogènes et non homogènes, y compris ceux contenant des phases distinctes.
Des informations sont fournies sur la manière de réaliser les évaluations des contraintes résiduelles par la technique de diffraction des rayons X au synchrotron en ce qui concerne :
— la sélection appropriée de plans réticulaires de diffraction sur lesquels il convient d’effectuer des mesurages pour différentes catégories de matériaux ;
— les directions de l’éprouvette dans lesquelles il convient d’effectuer les mesurages ;
— le volume de matériau examiné en fonction de la taille du grain et de l’état de contrainte visé ;
— le choix de la référence (échantillon) sans contrainte facilitant le calcul de déformation résiduelle ;
— les méthodes disponibles pour calculer les contraintes résiduelles à partir des mesures de déformation.
Des modes opératoires sont présentés pour l’étalonnage des appareils de diffraction des rayons X au synchrotron, permettant :
— le positionnement et l’alignement corrects des pièces d’essai ;
— la définition précise du volume de matériau échantillonné aux fins des mesurages individuels ;
mais aussi pour :
— la réalisation des mesurages ;
— la réalisation des modes opératoires pour l’analyse des résultats ;
— la détermination de leurs incertitudes.
Les principes de la technique de diffraction des rayons X au synchrotron sont décrits et mis en perspective avec l’EN 15305:2008 et l’EN ISO 21432:2020 qui sont utilisées pour évaluer les contraintes dans la masse d’une éprouvette.
