Informējam, ka Sistēma pielāgota darbam ar interneta pārlūkprogrammu Internet Explorer (8. un jaunākām versijām) un Mozilla Firefox (3.6 un jaunākām versijām).
Izmantojot citu interneta pārlūkprogrammu, brīdinām, ka Sistēmas funkcionalitāte var tikt traucēta.
Describes measurement procedures for current-voltage characteristics of crystalline silicon photovoltaic devices in natural or simulated sunlight. These procedures are applicable to a single solar cell, a sub-assembly of solar cells, or a flat module.
Reģistrācijas numurs (WIID)
44760
Darbības sfēra
Describes measurement procedures for current-voltage characteristics of crystalline silicon photovoltaic devices in natural or simulated sunlight. These procedures are applicable to a single solar cell, a sub-assembly of solar cells, or a flat module.
