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L'IEC 62788-1-5:2016 fournit une méthode de mesure de la variation maximale représentative des dimensions linéaires des matériaux d'encapsulation en couches minces dans le cas d'une exposition thermique non limitée qui pourrait se produire au cours de la fabrication de modules photovoltaïques (PV). Les données obtenues avec cette méthode peuvent être utilisées par les fabricants de matériaux d'encapsulation dans le but d'assurer le contrôle de la qualité de leurs matériaux, et de les consigner dans les fiches techniques de leurs produits. Les données obtenues avec cette méthode peuvent être utilisées par les fabricants de modules photovoltaïques à des fins d'acceptation des matériaux, d'élaboration de procédés, d'analyse de conception ou d'analyse de défaillances.
Reģistrācijas numurs (WIID)
60551
Darbības sfēra
L'IEC 62788-1-5:2016 fournit une méthode de mesure de la variation maximale représentative des dimensions linéaires des matériaux d'encapsulation en couches minces dans le cas d'une exposition thermique non limitée qui pourrait se produire au cours de la fabrication de modules photovoltaïques (PV). Les données obtenues avec cette méthode peuvent être utilisées par les fabricants de matériaux d'encapsulation dans le but d'assurer le contrôle de la qualité de leurs matériaux, et de les consigner dans les fiches techniques de leurs produits. Les données obtenues avec cette méthode peuvent être utilisées par les fabricants de modules photovoltaïques à des fins d'acceptation des matériaux, d'élaboration de procédés, d'analyse de conception ou d'analyse de défaillances.
