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<!-- NEW! -->IEC 61675-1:2022 est disponible sous forme de <a href="https://webstore.iec.ch/publication/75011">IEC 61675-1:2022 RLV</a> qui contient la Norme internationale et sa version Redline, illustrant les modifications du contenu technique depuis l'édition précédente.</br></br>L'IEC 61675-1:2022 spécifie la terminologie et les méthodes d'essai relatives à la description des caractéristiques des TOMOGRAPHES A EMISSION DE POSITRONS. Les TOMOGRAPHES A EMISSION DE POSITRONS détectent le RAYONNEMENT D'ANNIHILATION des RADIONUCLEIDES qui émettent des positrons par la DETECTION EN COÏNCIDENCE. L'IEC 61675-1:2022 annule et remplace la deuxième édition parue en 2013. Cette édition constitue une révision technique. Cette édition inclut les modifications techniques majeures suivantes par rapport à l'édition précédente: des exigences ont été modifiées ou ajoutées quant aux aspects techniques de la RESOLUTION SPATIALE, du mesurage de la sensibilité, de la FRACTION DE DIFFUSION, de la performance du TAUX DE COMPTAGE, de la qualité d'image et de l’exactitude de la superposition d’images en TEP ou CT.
Reģistrācijas numurs (WIID)
72314
Darbības sfēra
<!-- NEW! -->IEC 61675-1:2022 est disponible sous forme de <a href="https://webstore.iec.ch/publication/75011">IEC 61675-1:2022 RLV</a> qui contient la Norme internationale et sa version Redline, illustrant les modifications du contenu technique depuis l'édition précédente.</br></br>L'IEC 61675-1:2022 spécifie la terminologie et les méthodes d'essai relatives à la description des caractéristiques des TOMOGRAPHES A EMISSION DE POSITRONS. Les TOMOGRAPHES A EMISSION DE POSITRONS détectent le RAYONNEMENT D'ANNIHILATION des RADIONUCLEIDES qui émettent des positrons par la DETECTION EN COÏNCIDENCE. L'IEC 61675-1:2022 annule et remplace la deuxième édition parue en 2013. Cette édition constitue une révision technique. Cette édition inclut les modifications techniques majeures suivantes par rapport à l'édition précédente: des exigences ont été modifiées ou ajoutées quant aux aspects techniques de la RESOLUTION SPATIALE, du mesurage de la sensibilité, de la FRACTION DE DIFFUSION, de la performance du TAUX DE COMPTAGE, de la qualité d'image et de l’exactitude de la superposition d’images en TEP ou CT.
