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La CEI 60269-4:2009 doit être utilisée conjointement avec la quatrième édition de la CEI 60269-1. Cette Partie 4 complète ou modifie les articles ou paragraphes correspondant de la Partie 1. Sauf indication contraire dans le texte qui suit, les éléments de remplacement utilisés pour la protection des dispositifs à semiconducteurs doivent répondre à l'ensemble des exigences énoncées dans la CEI 60269-1 ainsi qu'aux exigences supplémentaires fixées ci-après. Cette cinquième édition annule et remplace la quatrième édition, parue en 2006. Elle constitue une révision technique. Les modifications techniques significatives par rapport à la quatrième édition sont: - l'introduction des éléments de remplacement pour onduleur à source de tension, y compris les exigences d'essai; - les essais sur les caractéristiques de fonctionnement en courant alternatif, maintenant couverts par les essais de pouvoir de coupure; - la mise à jour des exemples d'éléments de remplacement normalisés pour la protection des dispositifs à semiconducteurs.
Reģistrācijas numurs (WIID)
60898
Darbības sfēra
La CEI 60269-4:2009 doit être utilisée conjointement avec la quatrième édition de la CEI 60269-1. Cette Partie 4 complète ou modifie les articles ou paragraphes correspondant de la Partie 1. Sauf indication contraire dans le texte qui suit, les éléments de remplacement utilisés pour la protection des dispositifs à semiconducteurs doivent répondre à l'ensemble des exigences énoncées dans la CEI 60269-1 ainsi qu'aux exigences supplémentaires fixées ci-après. Cette cinquième édition annule et remplace la quatrième édition, parue en 2006. Elle constitue une révision technique. Les modifications techniques significatives par rapport à la quatrième édition sont: - l'introduction des éléments de remplacement pour onduleur à source de tension, y compris les exigences d'essai; - les essais sur les caractéristiques de fonctionnement en courant alternatif, maintenant couverts par les essais de pouvoir de coupure; - la mise à jour des exemples d'éléments de remplacement normalisés pour la protection des dispositifs à semiconducteurs.
