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La CEI 62215-3:2013 spécifie une méthode pour mesurer l'immunité d'un circuit intégré (CI) aux perturbations transitoires électriques conduites normalisées. Les perturbations, non nécessairement synchronisées sur le fonctionnement du dispositif en essai (DUT, device under test), sont appliquées aux broches du circuit intégré via des réseaux de couplage. Cette méthode permet de comprendre et de classer les interactions entre des perturbations transitoires conduites et la dégradation de fonctionnement induite dans les circuits intégrés indépendamment des transitoires à l'intérieur ou au-delà de la gamme de tensions de fonctionnement spécifiées.
Reģistrācijas numurs (WIID)
49002
Darbības sfēra
La CEI 62215-3:2013 spécifie une méthode pour mesurer l'immunité d'un circuit intégré (CI) aux perturbations transitoires électriques conduites normalisées. Les perturbations, non nécessairement synchronisées sur le fonctionnement du dispositif en essai (DUT, device under test), sont appliquées aux broches du circuit intégré via des réseaux de couplage. Cette méthode permet de comprendre et de classer les interactions entre des perturbations transitoires conduites et la dégradation de fonctionnement induite dans les circuits intégrés indépendamment des transitoires à l'intérieur ou au-delà de la gamme de tensions de fonctionnement spécifiées.
