CEN/TC 132
| Projekta Nr. | EN 12373-11:2000 |
|---|---|
| Nosaukums | Cette partie de la présente norme européenne spécifie des méthodes de mesurage de la réflectance spéculaire et du brillant spéculaire d'échantillons plats d'aluminium anodisé sous des angles de 20° (méthode A), 45° (méthode B), 60° (méthode C) et 85° (méthode D), plus une autre méthode à 45° (méthode E) à petitangle d'ouverture pour le mesurage de la réflectance spéculaire. Les méthodes décrites sont principalement utilisables sur des surfaces plates anodisées claires. Elles peuvent être utilisées sur de l'aluminium anodisé coloré, mais dans ce cas, uniquement pour des couleurs semblables. |
| Reģistrācijas numurs (WIID) | 4290 |
| Darbības sfēra | Cette partie de la présente norme européenne spécifie des méthodes de mesurage de la réflectance spéculaire et du brillant spéculaire d'échantillons plats d'aluminium anodisé sous des angles de 20° (méthode A), 45° (méthode B), 60° (méthode C) et 85° (méthode D), plus une autre méthode à 45° (méthode E) à petitangle d'ouverture pour le mesurage de la réflectance spéculaire. Les méthodes décrites sont principalement utilisables sur des surfaces plates anodisées claires. Elles peuvent être utilisées sur de l'aluminium anodisé coloré, mais dans ce cas, uniquement pour des couleurs semblables. |
| Statuss | Atcelts |
| ICS grupa | 25.220.20 77.120.10 |