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Le présent document spécifie les exigences et le choix d’une méthode d’essai pour la détermination de la fraction fine pondérée par taille (SWFF) et de la fraction fine de silice cristalline pondérée par taille (SWFFCS) dans des matériaux en vrac.
Le présent document donne également des recommandations relatives à la préparation de l’échantillon et au dosage de la silice cristalline par analyse de poudre par diffraction de rayons X (XRD) et par spectroscopie infrarouge à transformée de Fourier (FT-IR).
NOTE L’EN 17289-2 spécifie une méthode permettant de calculer la fraction fine pondérée par taille à partir d’une distribution granulométrique mesurée et part de l’hypothèse que la distribution granulométrique des particules de silice cristalline est identique à celle des autres particules présentes dans le matériau en vrac. L’EN 17289-3 spécifie une méthode utilisant une technique de sédimentation dans un liquide pour déterminer la fraction fine de silice cristalline pondérée par taille. Les deux méthodes sont fondées sur un certain nombre de limites et d’hypothèses, qui sont respectivement énumérées dans l’EN 17289-2 et l’EN 17289-3. La méthode décrite dans l’EN 17289-3 peut également être utilisée pour d’autres constituants que la silice cristalline, s’ils sont étudiés et validés.
Le présent document s’applique aux matériaux en vrac contenant de la silice cristalline, qui ont été entièrement étudiés et validés pour l’évaluation de la fraction fine pondérée par taille et de la silice cristalline.
Reģistrācijas numurs (WIID)
66732
Darbības sfēra
Le présent document spécifie les exigences et le choix d’une méthode d’essai pour la détermination de la fraction fine pondérée par taille (SWFF) et de la fraction fine de silice cristalline pondérée par taille (SWFFCS) dans des matériaux en vrac.
Le présent document donne également des recommandations relatives à la préparation de l’échantillon et au dosage de la silice cristalline par analyse de poudre par diffraction de rayons X (XRD) et par spectroscopie infrarouge à transformée de Fourier (FT-IR).
NOTE L’EN 17289-2 spécifie une méthode permettant de calculer la fraction fine pondérée par taille à partir d’une distribution granulométrique mesurée et part de l’hypothèse que la distribution granulométrique des particules de silice cristalline est identique à celle des autres particules présentes dans le matériau en vrac. L’EN 17289-3 spécifie une méthode utilisant une technique de sédimentation dans un liquide pour déterminer la fraction fine de silice cristalline pondérée par taille. Les deux méthodes sont fondées sur un certain nombre de limites et d’hypothèses, qui sont respectivement énumérées dans l’EN 17289-2 et l’EN 17289-3. La méthode décrite dans l’EN 17289-3 peut également être utilisée pour d’autres constituants que la silice cristalline, s’ils sont étudiés et validés.
Le présent document s’applique aux matériaux en vrac contenant de la silice cristalline, qui ont été entièrement étudiés et validés pour l’évaluation de la fraction fine pondérée par taille et de la silice cristalline.
