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Dieser Teil von ISO 16773 legt ein Verfahren zum Bewerten des experimentellen Aufbaus zur Durchführung der Elektrochemischen Impedanzspektroskopie (EIS) von beschichteten Proben mit hoher Impedanz fest. Für diesen Zweck werden Testschaltkreise verwendet, mit denen beschichtete Proben mit hoher Impedanz simuliert werden. Auf der Grundlage der beschriebenen Ersatzschaltkreise stellt dieser Teil von ISO 16773 einen Leitfaden für die Anwendung von Testschaltkreisen dar, um das Vertrauen in die Angaben im Prüf-protokoll hinsichtlich Messung, Kurvenanpassung und Darstellung von Daten zu erhöhen.
ANMERKUNG Die Messung beschichteter Proben mit hoher Impedanz ist in Bezug auf Artefakte durch elektromagnetische Interferenzen kritischer. Daher berücksichtigt dieser Teil von ISO 16773 die Aspekte der Messung von Proben mit hoher Impedanz durch geeignete Testschaltkreise. Dennoch bieten die meisten Hersteller ergänzend Testschaltkreise im Bereich niedriger und mittlerer Impedanz an. Das erlaubt die Kontrolle des Messaufbaus in Bezug auf den Bereich niedriger Impedanz.
Reģistrācijas numurs (WIID)
38753
Darbības sfēra
Dieser Teil von ISO 16773 legt ein Verfahren zum Bewerten des experimentellen Aufbaus zur Durchführung der Elektrochemischen Impedanzspektroskopie (EIS) von beschichteten Proben mit hoher Impedanz fest. Für diesen Zweck werden Testschaltkreise verwendet, mit denen beschichtete Proben mit hoher Impedanz simuliert werden. Auf der Grundlage der beschriebenen Ersatzschaltkreise stellt dieser Teil von ISO 16773 einen Leitfaden für die Anwendung von Testschaltkreisen dar, um das Vertrauen in die Angaben im Prüf-protokoll hinsichtlich Messung, Kurvenanpassung und Darstellung von Daten zu erhöhen.
ANMERKUNG Die Messung beschichteter Proben mit hoher Impedanz ist in Bezug auf Artefakte durch elektromagnetische Interferenzen kritischer. Daher berücksichtigt dieser Teil von ISO 16773 die Aspekte der Messung von Proben mit hoher Impedanz durch geeignete Testschaltkreise. Dennoch bieten die meisten Hersteller ergänzend Testschaltkreise im Bereich niedriger und mittlerer Impedanz an. Das erlaubt die Kontrolle des Messaufbaus in Bezug auf den Bereich niedriger Impedanz.
