CEN/TC 139
| Projekta Nr. | EN 13523-2:2001 |
|---|---|
| Nosaukums | Dieser Teil von EN beschreibt das Verfahren zum Bestimmen des Reflektometerwertes einer organischen Beschichtung auf einem metallischen Substrat. Der Glanz ist eine Kenngröße von grundsätzlicher Bedeutung für das Aussehen eines bandbeschichteten Produktes. Das Gerät erfordert eine ebene Probe, die größer ist als die Meßöffnung. Unebene Proben können folglich nicht gemessen werden. Das Verfahren ist nur auf alle pigmentierten und nichtpigmentierten Beschichtungen, einschließlich Beschichtungen mit Metalleffekt oder Perlglanzeffekt anwendbar. Für strukturierte Beschichtungen gibt es nur Anhaltswerte. |
| Reģistrācijas numurs (WIID) | 4990 |
| Darbības sfēra | Dieser Teil von EN beschreibt das Verfahren zum Bestimmen des Reflektometerwertes einer organischen Beschichtung auf einem metallischen Substrat. Der Glanz ist eine Kenngröße von grundsätzlicher Bedeutung für das Aussehen eines bandbeschichteten Produktes. Das Gerät erfordert eine ebene Probe, die größer ist als die Meßöffnung. Unebene Proben können folglich nicht gemessen werden. Das Verfahren ist nur auf alle pigmentierten und nichtpigmentierten Beschichtungen, einschließlich Beschichtungen mit Metalleffekt oder Perlglanzeffekt anwendbar. Für strukturierte Beschichtungen gibt es nur Anhaltswerte. |
| Statuss | Atcelts |
| ICS grupa | 17.180.20 25.220.60 |