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Diese Internationale Norm legt ein Verfahren zur Bewertung des Versuchsaufbaus für elektrochemische Messungen an beschichteten Proben mit hoher Impedanz fest, unter Anwendung von Verfahren, die auf dem Stromunter¬brechungsverfahren (CI), der Relaxationsvoltametrie (RV) oder der Gleichstrom¬transienten¬messung (DCT) basieren.
Sie liefert spezifische Definitionen und stellt eine Anleitung dar, um die Datenerfassung bei CI, RV und DCT an Beschichtungssystemen mit hoher Impedanz zu optimieren. In Bezug auf intakte Beschichtungen spricht man bei Beschichtungssystemen mit einer Impedanz von mehr als 109 Ω/cm2 von hoher Impedanz. Dies schließt Messungen an Beschichtungssystemen mit einer niedrigeren Impedanz nicht aus. Diese Internationale Norm behandelt insbesondere:
- Geräteaufbau: Anforderungen und Schwächen;
- Datenprüfung: Überprüfung des Messbereiches und der Genauigkeit der Daten;
- Durchführung der CI-, RV-, DCT-Messungen: Überlegungen zu Proben und Geräteparametern;
- Versuchsergebnisse: Verschiedene Verfahren zur Darstellung von CI-, RV- und DCT-Daten.
Die Befolgung der Empfehlungen sollte die Erfassung von CI-, RV- und DCT-Daten, die zur Untersuchung des Verhaltens der Proben verwendet werden können, sicherstellen. Diese Internationale Norm gibt keine Richtlinien zur Interpretation dieser Daten.
Reģistrācijas numurs (WIID)
36049
Darbības sfēra
Diese Internationale Norm legt ein Verfahren zur Bewertung des Versuchsaufbaus für elektrochemische Messungen an beschichteten Proben mit hoher Impedanz fest, unter Anwendung von Verfahren, die auf dem Stromunter¬brechungsverfahren (CI), der Relaxationsvoltametrie (RV) oder der Gleichstrom¬transienten¬messung (DCT) basieren.
Sie liefert spezifische Definitionen und stellt eine Anleitung dar, um die Datenerfassung bei CI, RV und DCT an Beschichtungssystemen mit hoher Impedanz zu optimieren. In Bezug auf intakte Beschichtungen spricht man bei Beschichtungssystemen mit einer Impedanz von mehr als 109 Ω/cm2 von hoher Impedanz. Dies schließt Messungen an Beschichtungssystemen mit einer niedrigeren Impedanz nicht aus. Diese Internationale Norm behandelt insbesondere:
- Geräteaufbau: Anforderungen und Schwächen;
- Datenprüfung: Überprüfung des Messbereiches und der Genauigkeit der Daten;
- Durchführung der CI-, RV-, DCT-Messungen: Überlegungen zu Proben und Geräteparametern;
- Versuchsergebnisse: Verschiedene Verfahren zur Darstellung von CI-, RV- und DCT-Daten.
Die Befolgung der Empfehlungen sollte die Erfassung von CI-, RV- und DCT-Daten, die zur Untersuchung des Verhaltens der Proben verwendet werden können, sicherstellen. Diese Internationale Norm gibt keine Richtlinien zur Interpretation dieser Daten.
