CEN/TC 139
| Projekta Nr. | EN 13523-1:2024 |
|---|---|
| Nosaukums | Dieses Dokument legt die Verfahren zum Bestimmen der Trockenschichtdicke einer organischen Beschichtung auf einem metallischen Substrat (Bandbeschichtung) fest. Fünf geeignete Verfahren werden in diesem Dokument angegeben: a) Magnetoinduktion; b) Wirbelstrom; c) Messschraube; d) optisch; e) robuste optische Interferenz. Die Verfahren sind nur auf Produkte mit glatten und ebenen Substraten anwendbar, die Beschichtung selbst kann aber strukturiert sein. In diesem Fall stellt bei den Verfahren a) und b) der Mittelwert einer Reihe von Messungen einen Durchschnittswert der Dicke der organischen Beschichtung dar, während Verfahren c) die größte Schichtdicke ergibt, mit Verfahren d) die kleinste, größte und durchschnittliche Schichtdicke ermittelt werden kann und Verfahren e) die Gesamtdicke ergibt. Nicht zerstörende Verfahren zum Messen der Trockenschichtdicke für Endlosbahnen sind nur bei Verfahren a) anwendbar. |
| Reģistrācijas numurs (WIID) | 77975 |
| Darbības sfēra | Dieses Dokument legt die Verfahren zum Bestimmen der Trockenschichtdicke einer organischen Beschichtung auf einem metallischen Substrat (Bandbeschichtung) fest. Fünf geeignete Verfahren werden in diesem Dokument angegeben: a) Magnetoinduktion; b) Wirbelstrom; c) Messschraube; d) optisch; e) robuste optische Interferenz. Die Verfahren sind nur auf Produkte mit glatten und ebenen Substraten anwendbar, die Beschichtung selbst kann aber strukturiert sein. In diesem Fall stellt bei den Verfahren a) und b) der Mittelwert einer Reihe von Messungen einen Durchschnittswert der Dicke der organischen Beschichtung dar, während Verfahren c) die größte Schichtdicke ergibt, mit Verfahren d) die kleinste, größte und durchschnittliche Schichtdicke ermittelt werden kann und Verfahren e) die Gesamtdicke ergibt. Nicht zerstörende Verfahren zum Messen der Trockenschichtdicke für Endlosbahnen sind nur bei Verfahren a) anwendbar. |
| Statuss | Standarts spēkā |
| ICS grupa | 17.040.20 25.220.60 |