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L’IEC 62969-4:2018 spécifie une méthode d’essai par injection directe de défaut pour l’interface à semiconducteurs des capteurs de véhicules automobiles, pouvant être utilisée pour assurer la conformité de l’interface de communication du véhicule.
Reģistrācijas numurs (WIID)
7641
Darbības sfēra
L’IEC 62969-4:2018 spécifie une méthode d’essai par injection directe de défaut pour l’interface à semiconducteurs des capteurs de véhicules automobiles, pouvant être utilisée pour assurer la conformité de l’interface de communication du véhicule.
