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Dieses Dokument legt ein Messverfahren für die Schichtdicke keramischer Beschichtungen fest, bei dem ein metallographisch angefertigter Querschliff der Beschichtung mit einem kalibrierten Licht- oder Rasterelektro-nenmikroskop untersucht wird. Es lehnt sich eng an EN ISO 9220 [8] an, jedoch wurden alle erforderlichen Anpassungen und Aktualisierungen vorgenommen, um keramischen Beschichtungen und der derzeitig besten Praxis zu entsprechen.
Reģistrācijas numurs (WIID)
29665
Darbības sfēra
Dieses Dokument legt ein Messverfahren für die Schichtdicke keramischer Beschichtungen fest, bei dem ein metallographisch angefertigter Querschliff der Beschichtung mit einem kalibrierten Licht- oder Rasterelektro-nenmikroskop untersucht wird. Es lehnt sich eng an EN ISO 9220 [8] an, jedoch wurden alle erforderlichen Anpassungen und Aktualisierungen vorgenommen, um keramischen Beschichtungen und der derzeitig besten Praxis zu entsprechen.
