Informējam, ka Sistēma pielāgota darbam ar interneta pārlūkprogrammu Internet Explorer (8. un jaunākām versijām) un Mozilla Firefox (3.6 un jaunākām versijām).
Izmantojot citu interneta pārlūkprogrammu, brīdinām, ka Sistēmas funkcionalitāte var tikt traucēta.
Dieses Dokument legt ein Niedrigspannungsprüfverfahren zum Nachweis und Lokalisieren von Fehlstellen (Poren, Rissen oder Abplatzungen) in Email-Überzügen auf gewellten und/oder gesickten Profilen, die bis zum Grundmaterial durchgehen, fest.
Das Verfahren beruht auf Farbeffekten (optisches Verfahren) und gilt für den präzisen Nachweis von Fehlstellen und ihrer exakten Lage. Es kann für nicht ebene kompliziertere Formen, beispielsweise gewellte oder gesickte Flächen angewendet werden.
ANMERKUNG Die Niedrigspannungsprüfung ist ein zerstörungsfreies Prüfverfahren für den Nachweis von Fehlstellen, die bis zum Grundmaterial reichen und ist daher vollständig verschieden im Vergleich zur Hochspannungsprüfung nach ISO 2746.
Reģistrācijas numurs (WIID)
65746
Darbības sfēra
Dieses Dokument legt ein Niedrigspannungsprüfverfahren zum Nachweis und Lokalisieren von Fehlstellen (Poren, Rissen oder Abplatzungen) in Email-Überzügen auf gewellten und/oder gesickten Profilen, die bis zum Grundmaterial durchgehen, fest.
Das Verfahren beruht auf Farbeffekten (optisches Verfahren) und gilt für den präzisen Nachweis von Fehlstellen und ihrer exakten Lage. Es kann für nicht ebene kompliziertere Formen, beispielsweise gewellte oder gesickte Flächen angewendet werden.
ANMERKUNG Die Niedrigspannungsprüfung ist ein zerstörungsfreies Prüfverfahren für den Nachweis von Fehlstellen, die bis zum Grundmaterial reichen und ist daher vollständig verschieden im Vergleich zur Hochspannungsprüfung nach ISO 2746.