CEN/TC 262

Projekta Nr.EN ISO 8401:2017
Nosaukums1.1 In dieser Internationalen Norm sind allgemeine Verfahren zur Messung der Duktilität von metallischen Überzügen mit einer Dicke kleiner als 200 μm festgelegt, die durch elektrolytische Abscheidung, auto¬kata¬lytische Abscheidung oder andere Verfahren aufgebracht wurden (siehe Anmerkung). Die Verfahren zur Messung der Duktilität metallischer Überzüge können in zwei Hauptgruppen unterteilt werden:  Prüfungen an freien Folien (vom Grundwerkstoff abgehoben);  Prüfungen der Überzüge auf Grundwerkstoffen. ANMERKUNG Falls in Internationalen Normen für einzelne Überzüge spezielle Prüfverfahren enthalten sind, sollten sie bevorzugt und zuvor zwischen Lieferer und Besteller vereinbart werden. 1.2 Bei der Prüfung an freien Folien, die vom Grundwerkstoff abgehoben sind (siehe Bild 1), können die Folien aus einer oder mehreren metallischen Schichten bestehen. Dadurch sind die Messung der Duktilität von Verbundwerkstoffen sowie die Bestimmung des Einflusses der einzelnen Schichten auf die Gesamt¬duktilität möglich. Verfahren für Prüfungen an freien Folien werden im Abschnitt 3 beschrieben. Verfahren zur Herstellung der Folien für die Prüfung werden im Anhang A erörtert. 1.3 Bei der Prüfung von Überzügen auf den Grundwerkstoffen (siehe Bild 2) ist es besonders wichtig, den genauen Punkt für die Risseinleitung auf der Deckschicht zu bestimmen. Es sind die unterschiedlichen Verfahren zur Erkennung dieses Punktes bei normalem oder entsprechend korrigiertem Sehvermögen oder mit einer Lupe zu beachten. Siehe Anleitung für die einzelnen Verfahren. Diese Verfahren können auch dazu verwendet werden, eine Versprödung des Grundwerkstoffs aufzuzeigen, die sich beim Beschichtungs¬vorgang ergeben haben kann. Verfahren zur Prüfung der Schutzschichten auf den Grundwerkstoffen werden im Abschnitt 4 beschrieben. 1.4 Obwohl die Duktilität eine Werkstoffeigenschaft und von den Maßen der Probe unabhängig ist, kann die Dicke des Überzugs den Wert der linearen Dehnung (Δl/l0) beeinflussen. 1.4.1 Sehr dünne Überzüge haben andere Eigenschaften, da der Aufbau der ersten Schichten von den Eigenschaften des Grundwerkstoffs (Epitaxie) beeinflusst wird. In den ersten Stadien der Abscheidung können hohe Eigenspannungen auftreten, die auf die Duktilität einwirken. 1.4.2 Es ist wesentlich, dass die Probe eine gleichmäßige Dicke aufweist, da dünnere Stellen eine vorzeitige Rissbildung einleiten. Ferner ist die Stromdichte bei elektrolytisch beschichteten Proben an dünneren Teilen niedriger und an dickeren Teilen höher; darum können Unterschiede in der Stromdichte zu unterschied¬licher Duktilität führen. Die angewendete Stromdichte sollte über die gesamte Probe möglichst gleichmäßig beibehalten und ihr Wert protokolliert werden.
Reģistrācijas numurs (WIID)62273
Darbības sfēra1.1 In dieser Internationalen Norm sind allgemeine Verfahren zur Messung der Duktilität von metallischen Überzügen mit einer Dicke kleiner als 200 μm festgelegt, die durch elektrolytische Abscheidung, auto¬kata¬lytische Abscheidung oder andere Verfahren aufgebracht wurden (siehe Anmerkung). Die Verfahren zur Messung der Duktilität metallischer Überzüge können in zwei Hauptgruppen unterteilt werden:  Prüfungen an freien Folien (vom Grundwerkstoff abgehoben);  Prüfungen der Überzüge auf Grundwerkstoffen. ANMERKUNG Falls in Internationalen Normen für einzelne Überzüge spezielle Prüfverfahren enthalten sind, sollten sie bevorzugt und zuvor zwischen Lieferer und Besteller vereinbart werden. 1.2 Bei der Prüfung an freien Folien, die vom Grundwerkstoff abgehoben sind (siehe Bild 1), können die Folien aus einer oder mehreren metallischen Schichten bestehen. Dadurch sind die Messung der Duktilität von Verbundwerkstoffen sowie die Bestimmung des Einflusses der einzelnen Schichten auf die Gesamt¬duktilität möglich. Verfahren für Prüfungen an freien Folien werden im Abschnitt 3 beschrieben. Verfahren zur Herstellung der Folien für die Prüfung werden im Anhang A erörtert. 1.3 Bei der Prüfung von Überzügen auf den Grundwerkstoffen (siehe Bild 2) ist es besonders wichtig, den genauen Punkt für die Risseinleitung auf der Deckschicht zu bestimmen. Es sind die unterschiedlichen Verfahren zur Erkennung dieses Punktes bei normalem oder entsprechend korrigiertem Sehvermögen oder mit einer Lupe zu beachten. Siehe Anleitung für die einzelnen Verfahren. Diese Verfahren können auch dazu verwendet werden, eine Versprödung des Grundwerkstoffs aufzuzeigen, die sich beim Beschichtungs¬vorgang ergeben haben kann. Verfahren zur Prüfung der Schutzschichten auf den Grundwerkstoffen werden im Abschnitt 4 beschrieben. 1.4 Obwohl die Duktilität eine Werkstoffeigenschaft und von den Maßen der Probe unabhängig ist, kann die Dicke des Überzugs den Wert der linearen Dehnung (Δl/l0) beeinflussen. 1.4.1 Sehr dünne Überzüge haben andere Eigenschaften, da der Aufbau der ersten Schichten von den Eigenschaften des Grundwerkstoffs (Epitaxie) beeinflusst wird. In den ersten Stadien der Abscheidung können hohe Eigenspannungen auftreten, die auf die Duktilität einwirken. 1.4.2 Es ist wesentlich, dass die Probe eine gleichmäßige Dicke aufweist, da dünnere Stellen eine vorzeitige Rissbildung einleiten. Ferner ist die Stromdichte bei elektrolytisch beschichteten Proben an dünneren Teilen niedriger und an dickeren Teilen höher; darum können Unterschiede in der Stromdichte zu unterschied¬licher Duktilität führen. Die angewendete Stromdichte sollte über die gesamte Probe möglichst gleichmäßig beibehalten und ihr Wert protokolliert werden.
StatussIzstrādē
ICS grupa25.220.40
17.040.20