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Diese Internationale Norm legt ein Verfahren zur Messung der örtlichen Dicke metallischer Überzüge fest, in dem Querschnitte mit einem Rasterelektronenmikroskop (REM) untersucht werden. Es handelt sich um ein zerstörendes Verfahren, das eine Messunsicherheit von weniger als 10 % oder 0,1 micro m hat. Dieses Verfahren kann für Schichtdicken bis zu mehreren Millimetern verwendet werden, es ist jedoch im allgemeinen zweckmässiger, hierfür ein Lichtmikroskop (ISO 1463) anzuwenden, sofern das möglich ist.
Reģistrācijas numurs (WIID)
13415
Darbības sfēra
Diese Internationale Norm legt ein Verfahren zur Messung der örtlichen Dicke metallischer Überzüge fest, in dem Querschnitte mit einem Rasterelektronenmikroskop (REM) untersucht werden. Es handelt sich um ein zerstörendes Verfahren, das eine Messunsicherheit von weniger als 10 % oder 0,1 micro m hat. Dieses Verfahren kann für Schichtdicken bis zu mehreren Millimetern verwendet werden, es ist jedoch im allgemeinen zweckmässiger, hierfür ein Lichtmikroskop (ISO 1463) anzuwenden, sofern das möglich ist.
