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Le présent document décrit des méthodes de mesurage de l’épaisseur des revêtements à l’aide d’ondes
thermiques produites par une source de rayonnement.
La méthode peut être utilisée pour les revêtements dont les propriétés thermiques (par exemple, la
conductivité thermique) diffèrent de celles des substrats pour une plage d’épaisseur comprise entre quelques
microns et plusieurs centaines de microns.
Reģistrācijas numurs (WIID)
23827
Darbības sfēra
Le présent document décrit des méthodes de mesurage de l’épaisseur des revêtements à l’aide d’ondes
thermiques produites par une source de rayonnement.
La méthode peut être utilisée pour les revêtements dont les propriétés thermiques (par exemple, la
conductivité thermique) diffèrent de celles des substrats pour une plage d’épaisseur comprise entre quelques
microns et plusieurs centaines de microns.
