CEN/TC 262
| Projekta Nr. | EN ISO 1463:2004 |
|---|---|
| Nosaukums | L'ISO 1463:2002 décrit une méthode de mesure de l'épaisseur locale des revêtements métalliques, des couches d'oxyde, et des revêtements de porcelaine ou d'émail vitrifié, par examen de coupes transversales à l'aide d'un microscope optique. |
| Reģistrācijas numurs (WIID) | 13525 |
| Darbības sfēra | L'ISO 1463:2002 décrit une méthode de mesure de l'épaisseur locale des revêtements métalliques, des couches d'oxyde, et des revêtements de porcelaine ou d'émail vitrifié, par examen de coupes transversales à l'aide d'un microscope optique. |
| Statuss | Atcelts |
| ICS grupa | 17.040.20 25.220.40 |