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Diese Internationale Norm legt ein Verfahren zur Messung der Schichtdicke von dünnen, stark reflektierenden Überzügen (bis 2 microm) durch Anwendung des Vielstrahl-Interferenz-Verfahrens nach Fizeau fest. Das beschriebene Verfahren kann nicht auf Überzügen aus Glasemail angewendet werden.
Reģistrācijas numurs (WIID)
13401
Darbības sfēra
Diese Internationale Norm legt ein Verfahren zur Messung der Schichtdicke von dünnen, stark reflektierenden Überzügen (bis 2 microm) durch Anwendung des Vielstrahl-Interferenz-Verfahrens nach Fizeau fest. Das beschriebene Verfahren kann nicht auf Überzügen aus Glasemail angewendet werden.
