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La présente Norme Internationale spécifie une méthode de mesurage de l'épaisseur des revêtements minces à haut pouvoir réfléchissant (jusqu'à 2 µm), basée sur le principe de Fizeau d'interférométrie à faisceaux multiples. La méthode décrite ne peut pas être appliquée aux revêtements en émail vitrifié.
Reģistrācijas numurs (WIID)
13401
Darbības sfēra
La présente Norme Internationale spécifie une méthode de mesurage de l'épaisseur des revêtements minces à haut pouvoir réfléchissant (jusqu'à 2 µm), basée sur le principe de Fizeau d'interférométrie à faisceaux multiples. La méthode décrite ne peut pas être appliquée aux revêtements en émail vitrifié.
