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Dieses Dokument legt zwei Niedrigspannungsprüfungen zum Nachweisen und Lokalisieren von bis zum Grundmetall durchgehenden Fehlstellen in Email-Überzügen fest.
Verfahren A (elektronisches Verfahren) ist anwendbar für den raschen Nachweis und die Grobbestimmung der Lage der Fehlstellen. Verfahren B (optisches Verfahren), das auf Farbeffekten beruht, ist geeignet für den präziseren Nachweis von Fehlstellen und ihrer exakten Lage. Beide Verfahren werden üblicherweise auf ebenen Oberflächen angewendet. Bei komplizierteren Formen, wie beispielsweise gewellten und/oder geriffelten Oberflächen, gilt ISO 8289 2.
ANMERKUNG 1 Die Auswahl des richtigen Prüfverfahrens ist entscheidend, um die Bereiche erhöhter Leitfähigkeit, die mit dem Verfahren B nachgewiesen werden, von tatsächlichen Poren, die bis zum Grundmetall durchgehen und mit beiden Verfahren nachgewiesen werden können, zu unterscheiden.
ANMERKUNG 2 Die Niedrigspannungsprüfung ist ein zerstörungsfreies Verfahren für den Nachweis von Fehlstellen und unterscheidet sich daher von der Hochspannungsprüfung nach ISO 2746. Die Ergebnisse der Hoch- und der Niedrigspannungsprüfung sind nicht vergleichbar und weichen voneinander ab.
Reģistrācijas numurs (WIID)
66351
Darbības sfēra
Dieses Dokument legt zwei Niedrigspannungsprüfungen zum Nachweisen und Lokalisieren von bis zum Grundmetall durchgehenden Fehlstellen in Email-Überzügen fest.
Verfahren A (elektronisches Verfahren) ist anwendbar für den raschen Nachweis und die Grobbestimmung der Lage der Fehlstellen. Verfahren B (optisches Verfahren), das auf Farbeffekten beruht, ist geeignet für den präziseren Nachweis von Fehlstellen und ihrer exakten Lage. Beide Verfahren werden üblicherweise auf ebenen Oberflächen angewendet. Bei komplizierteren Formen, wie beispielsweise gewellten und/oder geriffelten Oberflächen, gilt ISO 8289 2.
ANMERKUNG 1 Die Auswahl des richtigen Prüfverfahrens ist entscheidend, um die Bereiche erhöhter Leitfähigkeit, die mit dem Verfahren B nachgewiesen werden, von tatsächlichen Poren, die bis zum Grundmetall durchgehen und mit beiden Verfahren nachgewiesen werden können, zu unterscheiden.
ANMERKUNG 2 Die Niedrigspannungsprüfung ist ein zerstörungsfreies Verfahren für den Nachweis von Fehlstellen und unterscheidet sich daher von der Hochspannungsprüfung nach ISO 2746. Die Ergebnisse der Hoch- und der Niedrigspannungsprüfung sind nicht vergleichbar und weichen voneinander ab.
