CEN/TC 262
| Projekta Nr. | EN 14571:2005 |
|---|---|
| Nosaukums | La présente norme décrit une méthode de mesurage non destructif de l�épaisseur de revêtements conducteurs déposés sur des matériaux non conducteurs. Cette méthode repose sur le principe du mesurage de la résistivité de la feuille et est applicable à tout revêtement conducteur, aux couches métalliques et aux matériaux semi-conducteurs. En règle générale, la sonde doit être adaptée à la conductivité et à l�épaisseur de l�application considérée. La présente norme est cependant principalement axée sur les revêtements métalliques déposés sur des matériaux de base non conducteurs (par exemple du cuivre sur une matière plastique, les cartes de circuit imprimé). NOTE 1 Cette méthode est également applicable au mesurage de l�épaisseur de cuivre déposé par voie autocatalytique sur les cartes de circuit imprimé mais elle nécessite une forme de sonde différente de celle qui est décrite dans la présente norme. NOTE 2 Cette méthode est également applicable au mesurage de l�épaisseur de revêtements conducteurs déposés sur des matériaux de base conducteurs si la résistivité du revêtement et celle du matériau de base sont différentes. Ce cas n�est pas considéré dans la présente norme. |
| Reģistrācijas numurs (WIID) | 13509 |
| Darbības sfēra | La présente norme décrit une méthode de mesurage non destructif de l�épaisseur de revêtements conducteurs déposés sur des matériaux non conducteurs. Cette méthode repose sur le principe du mesurage de la résistivité de la feuille et est applicable à tout revêtement conducteur, aux couches métalliques et aux matériaux semi-conducteurs. En règle générale, la sonde doit être adaptée à la conductivité et à l�épaisseur de l�application considérée. La présente norme est cependant principalement axée sur les revêtements métalliques déposés sur des matériaux de base non conducteurs (par exemple du cuivre sur une matière plastique, les cartes de circuit imprimé). NOTE 1 Cette méthode est également applicable au mesurage de l�épaisseur de cuivre déposé par voie autocatalytique sur les cartes de circuit imprimé mais elle nécessite une forme de sonde différente de celle qui est décrite dans la présente norme. NOTE 2 Cette méthode est également applicable au mesurage de l�épaisseur de revêtements conducteurs déposés sur des matériaux de base conducteurs si la résistivité du revêtement et celle du matériau de base sont différentes. Ce cas n�est pas considéré dans la présente norme. |
| Statuss | Atcelts |
| ICS grupa | 17.040.20 25.220.40 |