Projekta Nr.EN ISO 3497:2000
Nosaukums1.1 Diese internationale Norm legt Verfahren zur Messung der Dicke metallischer Schichten nach dem Röntgenfluoreszenz-Verfahren fest. 1.2 Die Meßverfahren, für die diese internationale Norm gilt, sind grundlegende Verfahren, bei denen die flächenbezogene Masse bestimmt wird. Bei bekannter Dichte des Schichtwerkstoffs können die Meßergebnisse auch als längenbezogene Schichtdicke angegeben werden. 1.3 Die Meßverfahren erlauben die gleichzeitige Messung von Schichtsystemen mit bis zu drei Schichten, oder die gleichzeitige Messung der Dicke und Zusammensetzung von Schichten mit bis zu drei Bestandteilen.
Reģistrācijas numurs (WIID)13398
Darbības sfēra1.1 Diese internationale Norm legt Verfahren zur Messung der Dicke metallischer Schichten nach dem Röntgenfluoreszenz-Verfahren fest. 1.2 Die Meßverfahren, für die diese internationale Norm gilt, sind grundlegende Verfahren, bei denen die flächenbezogene Masse bestimmt wird. Bei bekannter Dichte des Schichtwerkstoffs können die Meßergebnisse auch als längenbezogene Schichtdicke angegeben werden. 1.3 Die Meßverfahren erlauben die gleichzeitige Messung von Schichtsystemen mit bis zu drei Schichten, oder die gleichzeitige Messung der Dicke und Zusammensetzung von Schichten mit bis zu drei Bestandteilen.
StatussIzstrādē
ICS grupa25.220.40