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Dieses Dokument legt ein Verfahren zur Bestimmung optischer und dielektrischer Konstanten im UV VIS NIR Spektralbereich sowie von Schichtdicken im Bereich der at line Fertigungskontrolle, der Qualitätssicherung und der Materialentwicklung durch akkreditierte Prüflaboratorien fest.
Es ist anwendbar für stand alone Messsysteme. Die Darstellung der Ergebnisunsicherheit entspricht dem ISO/IEC Guide 98 3.
Reģistrācijas numurs (WIID)
75783
Darbības sfēra
Dieses Dokument legt ein Verfahren zur Bestimmung optischer und dielektrischer Konstanten im UV VIS NIR Spektralbereich sowie von Schichtdicken im Bereich der at line Fertigungskontrolle, der Qualitätssicherung und der Materialentwicklung durch akkreditierte Prüflaboratorien fest.
Es ist anwendbar für stand alone Messsysteme. Die Darstellung der Ergebnisunsicherheit entspricht dem ISO/IEC Guide 98 3.
