CEN/TC 262
| Projekta Nr. | LVS EN ISO 3882:2024 |
|---|---|
| Nosaukums | Dieses Dokument enthält eine Übersicht über Verfahren zur Messung der Dicke metallischer und anderer anorganischer Schichten auf metallischen und nichtmetallischen Grundwerkstoffen (siehe Tabelle 1, Tabelle A.1 und Tabelle A.2). Es beschränkt sich auf in Internationalen Normen bereits erfasste oder noch zu erfassende Verfahren; ausgeschlossen werden Verfahren, die für besondere Anwendungen vorgesehen sind. |
| Reģistrācijas numurs (WIID) | 72725 |
| Darbības sfēra | Dieses Dokument enthält eine Übersicht über Verfahren zur Messung der Dicke metallischer und anderer anorganischer Schichten auf metallischen und nichtmetallischen Grundwerkstoffen (siehe Tabelle 1, Tabelle A.1 und Tabelle A.2). Es beschränkt sich auf in Internationalen Normen bereits erfasste oder noch zu erfassende Verfahren; ausgeschlossen werden Verfahren, die für besondere Anwendungen vorgesehen sind. |
| Statuss | Standarts spēkā |
| ICS grupa | 17.040.20 25.220.40 25.220.20 |