Projekta Nr.EN ISO 12179:2000
NosaukumsLa présente Norme internationale s'applique à l'étalonnage des caractéristiques métrologiques des instruments à contact (palpeur) destinés au mesurage de l'état de surface par la méthode du profil comme défini dans l'ISO 3274. L'étalonnage est à effectuer avec des étalons de mesure.L'annexe B s'applique à l'étalonnage des caractéristiques métrologiques d'instruments à contact (palpeur) simplifiés qui ne sont pas en conformité avec l'ISO 3274.
Reģistrācijas numurs (WIID)14428
Darbības sfēraLa présente Norme internationale s'applique à l'étalonnage des caractéristiques métrologiques des instruments à contact (palpeur) destinés au mesurage de l'état de surface par la méthode du profil comme défini dans l'ISO 3274. L'étalonnage est à effectuer avec des étalons de mesure.L'annexe B s'applique à l'étalonnage des caractéristiques métrologiques d'instruments à contact (palpeur) simplifiés qui ne sont pas en conformité avec l'ISO 3274.
StatussAtcelts
ICS grupa17.040.30