CEN/TC 290
| Projekta Nr. | EN ISO 8785:1999 |
|---|---|
| Nosaukums | Diese Internationale Norm definiert die Begriffe, die sich auf die Oberflächenunvolkommenheiten beziehen, um ein einheitliches Wörterbuch zu erarbeiten, das in technischen Zeichnungen, wissenschaftlichen Publikationen usw. angewendet werden sollte. Sie gibt an, in welchem Maße Oberflächenunvolkommenheiten erlaubt sind und hilft bei der Spezifikation von Verfahren zur Messung von Oberflächenunvolkommenheiten. Die in dieser Internationalen Norm definierten Oberflächenunvolkommenheiten beziehen sich nicht auf die Rauheit oder Welligkeit der Oberfläche. |
| Reģistrācijas numurs (WIID) | 14427 |
| Darbības sfēra | Diese Internationale Norm definiert die Begriffe, die sich auf die Oberflächenunvolkommenheiten beziehen, um ein einheitliches Wörterbuch zu erarbeiten, das in technischen Zeichnungen, wissenschaftlichen Publikationen usw. angewendet werden sollte. Sie gibt an, in welchem Maße Oberflächenunvolkommenheiten erlaubt sind und hilft bei der Spezifikation von Verfahren zur Messung von Oberflächenunvolkommenheiten. Die in dieser Internationalen Norm definierten Oberflächenunvolkommenheiten beziehen sich nicht auf die Rauheit oder Welligkeit der Oberfläche. |
| Statuss | Izstrādē |
| ICS grupa | 01.040.17 17.040.20 |