CEN/TC 290
| Projekta Nr. | EN ISO 25178-605:2025 |
|---|---|
| Nosaukums | Le présent document spécifie la conception et les caractéristiques des instruments à capteur autofocus à point (PAP) pour le mesurage surfacique de la topographie de surface. Comme les profils de surface peuvent être extraits des données de topographie de surface surfacique, les méthodes spécifiées dans le présent document s'appliquent également aux mesurages de profil. |
| Reģistrācijas numurs (WIID) | 76822 |
| Darbības sfēra | Le présent document spécifie la conception et les caractéristiques des instruments à capteur autofocus à point (PAP) pour le mesurage surfacique de la topographie de surface. Comme les profils de surface peuvent être extraits des données de topographie de surface surfacique, les méthodes spécifiées dans le présent document s'appliquent également aux mesurages de profil. |
| Statuss | Standarts spēkā |
| ICS grupa | 17.040.20 17.040.40 |