CEN/TC 290
| Projekta Nr. | LVS EN ISO 25178-605:2025 |
|---|---|
| Nosaukums | Dieses Dokument legt die Konstruktionsmerkmale und die messtechnischen Merkmale von Messgeräten mit Punkt-Autofokus-Sensor (PAS) zur flächenhaften Messung von Oberflächentopographien fest. Da Oberflächenprofile aus Daten der flächenhaften Oberflächentopografie extrahiert werden können, sind die in diesem Dokument festgelegten Verfahren auch auf Profilierungsmessungen anwendbar. |
| Reģistrācijas numurs (WIID) | 76822 |
| Darbības sfēra | Dieses Dokument legt die Konstruktionsmerkmale und die messtechnischen Merkmale von Messgeräten mit Punkt-Autofokus-Sensor (PAS) zur flächenhaften Messung von Oberflächentopographien fest. Da Oberflächenprofile aus Daten der flächenhaften Oberflächentopografie extrahiert werden können, sind die in diesem Dokument festgelegten Verfahren auch auf Profilierungsmessungen anwendbar. |
| Statuss | Standarts spēkā |
| ICS grupa | 17.040.20 17.040.40 |