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Dieses Dokument legt Verfahren zur Bestimmung von Größen- und Formverteilungen von Nanopartikeln durch Erfassung und Auswertung von Bildern des Rasterelektronenmikroskops sowie durch die Ermittlung und Berichterstattung genauer Ergebnisse fest.
ANMERKUNG 1 Dieses Dokument ist anwendbar für Partikel mit einer unteren Größengrenze, die von der erforderlichen Unsicherheit und von der geeigneten Leistung des REM abhängt, die zunächst entsprechend den in diesem Dokument beschriebenen Anforderungen nachgewiesen werden muss.
ANMERKUNG 2 Dieses Dokument ist auch anwendbar für REM-basierte Größen- und Formmessungen von Partikeln, die größer als im Nanomaßstab sind.
Reģistrācijas numurs (WIID)
76492
Darbības sfēra
Dieses Dokument legt Verfahren zur Bestimmung von Größen- und Formverteilungen von Nanopartikeln durch Erfassung und Auswertung von Bildern des Rasterelektronenmikroskops sowie durch die Ermittlung und Berichterstattung genauer Ergebnisse fest.
ANMERKUNG 1 Dieses Dokument ist anwendbar für Partikel mit einer unteren Größengrenze, die von der erforderlichen Unsicherheit und von der geeigneten Leistung des REM abhängt, die zunächst entsprechend den in diesem Dokument beschriebenen Anforderungen nachgewiesen werden muss.
ANMERKUNG 2 Dieses Dokument ist auch anwendbar für REM-basierte Größen- und Formmessungen von Partikeln, die größer als im Nanomaßstab sind.