ISO/TC 172/SC 1
| Projekta Nr. | ISO 10110-8:2010 |
|---|---|
| Nosaukums | <p>L'ISO 10110-8:2010 spécifie les règles d'indication de l'état de surface des éléments optiques. L'état de surface est la caractéristique d'une surface qui peut être efficacement décrite par des méthodes statistiques. L'état de surface est généralement associé à des erreurs de hautes fréquences spatiales (rugosité) et à des erreurs de fréquences spatiales moyennes (ondulation).</p> <p>L'ISO 10110-8:2010 est essentiellement destinée à la spécification des optiques polies.</p> <p>L'ISO 10110-8:2010 décrit une méthode de caractérisation de la surface résiduelle qui reste après redressement par soustraction de la forme de surface.</p> |
| Reģistrācijas numurs (WIID) | 46553 |
| Darbības sfēra | <p>L'ISO 10110-8:2010 spécifie les règles d'indication de l'état de surface des éléments optiques. L'état de surface est la caractéristique d'une surface qui peut être efficacement décrite par des méthodes statistiques. L'état de surface est généralement associé à des erreurs de hautes fréquences spatiales (rugosité) et à des erreurs de fréquences spatiales moyennes (ondulation).</p> <p>L'ISO 10110-8:2010 est essentiellement destinée à la spécification des optiques polies.</p> <p>L'ISO 10110-8:2010 décrit une méthode de caractérisation de la surface résiduelle qui reste après redressement par soustraction de la forme de surface.</p> |
| Statuss | Atcelts |
| ICS grupa | 01.100.20 37.020 |