CLC/TC 82
| Reģistrācijas numurs (WIID) | Projekta Nr. | Nosaukums | Statuss |
|---|---|---|---|
| 61524 | LVS EN 62670-3:2017 | Fotoelementu koncentratori (CPV). Veiktspējas testēšana. 3.daļa: Veiktspējas mērīšana un jaudas novērtēšana (IEC 62670-3:2017) | Standarts spēkā |
| 66674 | LVS EN 62788-1-6:2017/A1:2020 | Fotoelementu moduļos lietoto materiālu mērīšanas procedūras. 1-6.daļa: Hermetizējošie materiāli. Testēšanas metodes sacietēšanas pakāpes noteikšanai etilēna vinilacetātā (IEC 62788-1-6:2017/A1:2020) | Standarts spēkā |
| 60551 | LVS EN 62788-1-5:2017 | Fotoelektriskos moduļos lietoto materiālu mērīšanas procedūras. 1-5.daļa: Hermetizējošie materiāli. Lokšņu hermetizējošo materiālu lineāro izmēru izmaiņu mērīšana termiskos apstākļos (IEC 62788-1-5:2016) | Standarts spēkā |
| 73178 | LVS EN 60904-5:2011/A1:2023 | Fotoelektriskās ierīces. 5.daļa: Fotoelektrisko ierīču elementu ekvivalentās temperatūras noteikšana ar tukšgaitas sprieguma metodi (IEC 60904-5:2011/AMD1:2022) | Standarts spēkā |
| 53385 | LVS EN 61853-2:2017 | Fotoelektrisko (PV) moduļu veiktspējas testēšana un nominālie energorādītāji. 2.daļa: Spektrālās jutības, uzplūdes leņķa un moduļu darba temperatūras mērījumi (IEC 61853-2:2016) | Standarts spēkā |
| 65609 | LVS EN IEC 63027:2023 | Fotoelektriskās sistēmas. Līdzstrāvas loka noteikšana un pārtraukšana (IEC 63027:2023) | Standarts spēkā |
| 59338 | LVS EN 62788-1-2:2016 | Fotoelektriskos moduļos lietoto materiālu mērīšanas procedūras. 1-2.daļa: Hermetizējošie materiāli. Fotoelektrisko hermetizējošo un citu polimēru materiālu tilpuma īpatnējās pretestības mērīšana (IEC 62788-1-2:2016) | Standarts spēkā |
| 65815 | LVS EN IEC 60904-7:2020 | Fotoelektriskās ierīces. 7.daļa: Spektrālās nobīdes korekcijas aprēķināšana fotoelektrisko ierīču mērījumiem (IEC 60904-7:2019) | Standarts spēkā |
| 52744 | LVS EN 62670-1:2015 | Fotoelementu koncentratori (CPV). Veiktspējas testēšana. 1.daļa: Standarta nosacījumi (IEC 62670-1:2013) | Standarts spēkā |
| 65336 | LVS EN IEC 63202-1:2020 | Fotoelementi. 1.daļa: Gaismas izraisītas kristāliskā silīcija fotoelementu degradācijas mērīšana (IEC 63202-1:2019) | Standarts spēkā |
Attēlo no 371. līdz 380. no pavisam 446 ieraksta(-iem).