CLC/TC 86BXA
| Reģistrācijas numurs (WIID) | Projekta Nr. | Nosaukums | Statuss |
|---|---|---|---|
| 46443 | LVS EN 61300-2-14:2013 | Šķiedroptiskās savienotājierīces un pasīvie komponenti. Testēšanas un mērīšanas pamatprocedūras. 2-14. daļa: Testi. Augsta optiskā jauda (IEC 61300-2-14:2012) | Atcelts |
| 46443 | EN 61300-2-14:2013 | Dispositifs d'interconnexion et composants passifs à fibres optiques - Méthodes fondamentales d'essais et de mesures - Partie 2-14: Essais - Puissance optique élevée | Atcelts |
| 46422 | EN 61274-1:1997 | Raccords pour fibres optiques - Partie 1: Spécification générique | Atcelts |
| 46422 | LVS EN 61274-1:2002 | Optiskās šķiedras adapteri - 1.daļa: Vispārējā specifikācija | Atcelts |
| 46406 | EN 61300-2-47:2004 | Lichtwellenleiter - Verbindungselemente und passive Bauteile - Grundlegende Prüf- und Messverfahren - Teil 2-47: Prüfungen - Temperaturschock | Atcelts |
| 46406 | LVS EN 61300-2-47:2005 | Šķiedroptiskās savienotājierīces un pasīvie komponenti - Testēšanas un mērīšanas pamatprocedūras - 2-47.daļa: Testēšana - Termiskie triecieni | Atcelts |
| 46363 | LVS EN 61300-3-15:2002 | Optisko šķiedru savienojumelementi un inertās sastāvdaļas - Pamattesti un mērīšanas procedūras - 3.-15.daļa: Pārbaudes un mērījumi - Izliektas, slīpētas metāla uzgaļa gala virsmas ekscentriskums | Atcelts |
| 46363 | EN 61300-3-15:1997 | Lichtwellenleiter - Verbindungselemente und passive Bauteile - Grundlegende Prüf- und Meßverfahren - Teil 3-15: Untersuchungen und Messungen - Exzentrizität einer konvex polierten Stiftes | Atcelts |
| 46334 | EN 61753-086-2:2009 | Fibre optic interconnecting devices and passive components performance standard - Part 086-2: Non-connectorised single-mode bidirectional 1490 / 1550 nm downstream 1310 nm upstream WWDM devices for category C - Controlled environment | Standarts spēkā |
| 46334 | LVS EN 61753-086-2:2010 | Šķiedroptisko savienotājierīču un pasīvo komponentu veiktspējas standarts. 086-2. daļa: C kategorijai paredzētās bezspraudņu vienmoda divvirzienu 1490/1550 nm lejas 1310 nm augšas WWDM ierīces. Kontrolēta vide (IEC 61753-086-2:2009) | Atcelts |
Attēlo no 1051. līdz 1060. no pavisam 1336 ieraksta(-iem).