Reģistrācijas numurs (WIID)Projekta Nr.NosaukumsStatuss
63207LVS EN IEC 60793-1-47:2018Optiskās šķiedras. 1-47.daļa: Mērīšanas metodes un testēšanas procedūras. Makroizliekumu radītie zudumi (IEC 60793-1-47:2017)Standarts spēkā
77572LVS EN IEC 60793-1-46:2024Optiskās šķiedras. 1-46.daļa: Mērīšanas metodes un testēšanas procedūras. Vājināšanās izmaiņu uzraudzība (IEC 60793-1-46:2024)Standarts spēkā
76131LVS EN IEC 60793-1-45:2024Optiskās šķiedras. 1-45.daļa: Mērīšanas metodes un testēšanas procedūras. Moda lauka diametrs (IEC 60793-1-45:2024)Standarts spēkā
63206LVS EN IEC 60793-1-45:2018Optiskās šķiedras. 1-45.daļa: Mērīšanas metodes un testēšanas procedūras. Moda lauka diametrs (IEC 60793-1-45:2017)Atcelts
73983LVS EN IEC 60793-1-44:2023Optiskās šķiedras. 1-44.daļa: Mērīšanas metodes un testēšanas procedūras. Augšējais kritiskais viļņu garums (IEC 60793-1-44:2023)Standarts spēkā
76132LVS EN IEC 60793-1-41:2024Optiskās šķiedras. 1-41.daļa: Mērīšanas metodes un testēšanas procedūras. Frekvenču joslas platums (IEC 60793-1-41:2024)Standarts spēkā
76812LVS EN IEC 60793-1-40:2025Optiskās šķiedras. 1-40.daļa: Signāla vājināšanās mērīšanas metodes (IEC 60793-1-40:2024)Standarts spēkā
65189LVS EN IEC 60793-1-40:2019Optiskās šķiedras. 1-40.daļa: Signāla vājināšanās mērīšanas metodes (IEC 60793-1-40:2019)Atcelts
69739LVS EN IEC 60793-1-34:2021Optiskās šķiedras. 1-34.daļa: Mērīšanas metodes un testēšanas procedūras. Šķiedru liekums (IEC 60793-1-34:2021)Standarts spēkā
66490LVS EN IEC 60793-1-32:2019Optiskās šķiedras. 1-32.daļa: Mērīšanas metodes un testēšanas procedūras. Pārklājuma noņemamība (IEC 60793-1-32:2018)Standarts spēkā
Attēlo no 141. līdz 150. no pavisam 632 ieraksta(-iem).