Reģistrācijas numurs (WIID)Projekta Nr.NosaukumsStatuss
73664LVS EN IEC 60793-2-10:2019/A1:2022Optiskās šķiedras. 2-10.daļa: Izstrādājumu specifikācijas. Sekcijspecifikācija A1 kategorijas daudzmodu šķiedrām (IEC 60793-2-10:2019/AMD1:2022)Standarts spēkā
66456LVS EN IEC 60793-2-10:2019Optiskās šķiedras. 2-10.daļa: Izstrādājumu specifikācijas. Sekcijspecifikācija A1 kategorijas daudzmodu šķiedrām (IEC 60793-2-10:2019)Standarts spēkā
64197LVS EN IEC 60793-1-54:2018Optiskās šķiedras. 1-54.daļa: Mērīšanas metodes un testēšanas procedūras. Gamma apstarošana (IEC 60793-1-54:2018)Standarts spēkā
64113LVS EN IEC 60793-1-49:2019Optiskās šķiedras. 1-49.daļa: Mērīšanas metodes un testēšanas procedūras. Aizkaves modālā starpība (IEC 60793-1-49:2018)Standarts spēkā
63207LVS EN IEC 60793-1-47:2018Optiskās šķiedras. 1-47.daļa: Mērīšanas metodes un testēšanas procedūras. Makroizliekumu radītie zudumi (IEC 60793-1-47:2017)Standarts spēkā
77572LVS EN IEC 60793-1-46:2024Optiskās šķiedras. 1-46.daļa: Mērīšanas metodes un testēšanas procedūras. Vājināšanās izmaiņu uzraudzība (IEC 60793-1-46:2024)Standarts spēkā
76131LVS EN IEC 60793-1-45:2024Optiskās šķiedras. 1-45.daļa: Mērīšanas metodes un testēšanas procedūras. Moda lauka diametrs (IEC 60793-1-45:2024)Standarts spēkā
63206LVS EN IEC 60793-1-45:2018Optiskās šķiedras. 1-45.daļa: Mērīšanas metodes un testēšanas procedūras. Moda lauka diametrs (IEC 60793-1-45:2017)Atcelts
73983LVS EN IEC 60793-1-44:2023Optiskās šķiedras. 1-44.daļa: Mērīšanas metodes un testēšanas procedūras. Augšējais kritiskais viļņu garums (IEC 60793-1-44:2023)Standarts spēkā
76132LVS EN IEC 60793-1-41:2024Optiskās šķiedras. 1-41.daļa: Mērīšanas metodes un testēšanas procedūras. Frekvenču joslas platums (IEC 60793-1-41:2024)Standarts spēkā
Attēlo no 141. līdz 150. no pavisam 638 ieraksta(-iem).