Reģistrācijas numurs (WIID)Projekta Nr.NosaukumsStatuss
48581LVS EN 60794-2-40:2008Šķiedroptiskie kabeļi. 2-40. daļa: Telpu šķiedroptiskie kabeļi. Virsspecifikācija A4 šķiedru kabeļiemStandarts spēkā
64197LVS EN IEC 60793-1-54:2018Optiskās šķiedras. 1-54.daļa: Mērīšanas metodes un testēšanas procedūras. Gamma apstarošana (IEC 60793-1-54:2018)Standarts spēkā
52718LVS EN 60793-1-21:2002Optiskās šķiedras - 1-21.daļa: Mērīšanas metodes un testēšanas procedūra -. Aizsargpārklājuma ģeometrijaStandarts spēkā
47393LVS EN 60794-2-41:2009Šķiedroptiskie kabeļi. 2-41. daļa: Telpu kabeļi. Izstrādājumu specifikācija viendzīslas un divdzīslu kabeļiem ar A4 šķiedrām aizsargapvalkos (IEC 60794-2-41:2008)Standarts spēkā
57485LVS EN 60794-2-42:2008Šķiedroptiskie kabeļi. 2-42. daļa: Telpu šķiedroptiskie kabeļi. Izstrādājumu specifikācija viendzīslas un divdzīslu kabeļiem ar A4 šķiedrām (IEC 60794-2-42:2008)Standarts spēkā
63179LVS EN 60793-1-33:2018Optiskās šķiedras. 1-33.daļa: Mērīšanas metodes un testēšanas procedūras. Izturība pret stresa koroziju (IEC 60793-1-33:2017)Standarts spēkā
63207LVS EN IEC 60793-1-47:2018Optiskās šķiedras. 1-47.daļa: Mērīšanas metodes un testēšanas procedūras. Makroizliekumu radītie zudumi (IEC 60793-1-47:2017)Standarts spēkā
48336LVS EN 60793-1-53:2015Optiskās šķiedras. 1-53.daļa: Mērīšanas metodes un testēšanas procedūras. Testi ar mērcēšanu ūdenī (IEC 60793-1-53:2014)Standarts spēkā
45915LVS EN 60793-1-43:2015Optiskās šķiedras. 1-43.daļa: Mērīšanas metodes un testa procedūras. Skaitliskās apertūras mērīšana (IEC 60793-1-43:2015)Standarts spēkā
53499LVS EN 60794-5-10:2014Šķiedroptiskie kabeļi. 5-10.daļa: Virsspecifikācija. Ar iepūšanu ievelkamie āra mikrocaurulīšu šķiedroptiskie kabeļi, mikrocaurulītes un aizsargātās mikrocaurulītes (IEC 60794-5-10:2014)Standarts spēkā
Attēlo no 11. līdz 20. no pavisam 638 ieraksta(-iem).