Reģistrācijas numurs (WIID)Projekta Nr.NosaukumsStatuss
47734LVS EN 60793-1-51:2014Optiskās šķiedras. 1-51.daļa: Mērīšanas metodes un testēšanas procedūras. Sausa (nemainīga) karstuma testi (IEC 60793-1-51:2014)Standarts spēkā
49902LVS EN 60793-1-51:2002Optiskās šķiedras - 1-51.daļa: Mērīšanas metodes un testēšanas procedūras - Sauss karstumsAtcelts
43304LVS EN 60793-1-50:2015Optiskās šķiedras. 1-50.daļa: Mērīšanas metodes. Mitra karstuma (nemainīgs) tests (IEC 60793-1-50:2014)Standarts spēkā
42822LVS EN 60793-1-50:2002Optiskās šķiedras - 1-50.daļa: Mērīšanas metodes un testēšanas procedūras - Mitrs karstums (nemainīgs)Atcelts
56804LVS EN 60793-1-49:2006Optiskās šķiedras. 1-49.daļa: Mērīšanas metodes un testēšanas procedūras. Aizkaves modālā starpībaAtcelts
50929LVS EN 60793-1-49:2004Optiskās šķiedras - 1-49.daļa: Mērīšanas metodes un testēšanas procedūras - Aizkaves diferenciālais stāvoklisAtcelts
61525LVS EN 60793-1-48:2018Optiskās šķiedras. 1-48.daļa: Mērīšanas metodes un testēšanas procedūras. Dispersija polarizācijas stāvoklī (IEC 60793-1-48:2017)Standarts spēkā
55873LVS EN 60793-1-48:2008Optiskās šķiedras. 1-48. daļa: Mērīšana un testēšana. Dispersija polarizācijas stāvoklīAtcelts
56808LVS EN 60793-1-48:2004Optiskās šķiedras - 1-48.daļa: Mērīšanas metodes un testēšanas procedūras - Dispersija polarizācijas stāvoklīAtcelts
57917LVS EN 60793-1-47:2009Optiskās šķiedras. 1-47. daļa: Mērīšanas metodes un testēšana. Makroizliekumu radītie zudumi (IEC 60793-1-47:2009)Atcelts
Attēlo no 261. līdz 270. no pavisam 632 ieraksta(-iem).