Reģistrācijas numurs (WIID)Projekta Nr.NosaukumsStatuss
57567LVS EN 60793-1-44:2002Optiskās šķiedras - 1-44.daļa: Mērīšanas metodes un testēšanas procedūras - Augšējais kritiskais viļņu garumsAtcelts
45915LVS EN 60793-1-43:2015Optiskās šķiedras. 1-43.daļa: Mērīšanas metodes un testa procedūras. Skaitliskās apertūras mērīšana (IEC 60793-1-43:2015)Standarts spēkā
50433LVS EN 60793-1-43:2002Optiskās šķiedras - 1-43.daļa: Mērīšanas metodes un testēšanas procedūras - Skaitliskā apertūraAtcelts
42555LVS EN 60793-1-42:2013/AC:2016Optiskās šķiedras. 1-42.daļa: Mērīšanas metodes un testēšanas procedūras. Hromatiskā dispersijaStandarts spēkā
52827LVS EN 60793-1-42:2013Optiskās šķiedras. 1-42. daļa: Mērīšanas metodes un testēšanas procedūras. Hromatiskā dispersija (IEC 60793-1-42:2013)Standarts spēkā
44438LVS EN 60793-1-42:2007Optiskās šķiedras. 1-42. daļa: Mērīšanas metodes un testēšana. Hromatiskā dispersijaAtcelts
51809LVS EN 60793-1-42:2002Optiskās šķiedras - 1-42.daļa: Mērīšanas metodes un testēšanas procedūras - Hromatiskā dispersijaAtcelts
44156LVS EN 60793-1-41:2011Optiskās šķiedras. 1-41. daļa: Mērīšanas metodes un testēšanas procedūras. Frekvenču joslas platums (IEC 60793-1-41:2010)Atcelts
42490LVS EN 60793-1-41:2004Optiskās šķiedras - 1-41.daļa: Mērīšanas metodes un testēšanas procedūras - Frekvenču joslas platumsAtcelts
48273LVS EN 60793-1-41:2002Optiskās šķiedras - 1-41.daļa: Mērīšanas metodes un testēšanas procedūras - Frekvenču joslas platumsAtcelts
Attēlo no 281. līdz 290. no pavisam 638 ieraksta(-iem).