Reģistrācijas numurs (WIID)Projekta Nr.NosaukumsStatuss
55800LVS EN 60793-1-45:2004/AC:2016Optiskās šķiedras. 1-45.daļa: Mērīšanas metodes un testēšana. Moda lauka diametrsAtcelts
53184LVS EN 60793-1-46:2002Optiskās šķiedras - 1-46.daļa: Mērīšanas metodes un testēšanas procedūras - Optiskās caurlaidības pārmaiņu kontrolēšanaAtcelts
42240LVS EN 60793-1-47:2002Optiskās šķiedras - 1-47.daļa: Mērīšanas metodes un testēšanas procedūras - Makronolieces radītie zudumiAtcelts
55056LVS EN 60793-1-47:2007Optiskās šķiedras. 1-47. daļa: Mērīšanas metodes un testēšana. Makroizliekumu radītie zudumiAtcelts
57917LVS EN 60793-1-47:2009Optiskās šķiedras. 1-47. daļa: Mērīšanas metodes un testēšana. Makroizliekumu radītie zudumi (IEC 60793-1-47:2009)Atcelts
56808LVS EN 60793-1-48:2004Optiskās šķiedras - 1-48.daļa: Mērīšanas metodes un testēšanas procedūras - Dispersija polarizācijas stāvoklīAtcelts
55873LVS EN 60793-1-48:2008Optiskās šķiedras. 1-48. daļa: Mērīšana un testēšana. Dispersija polarizācijas stāvoklīAtcelts
61525LVS EN 60793-1-48:2018Optiskās šķiedras. 1-48.daļa: Mērīšanas metodes un testēšanas procedūras. Dispersija polarizācijas stāvoklī (IEC 60793-1-48:2017)Standarts spēkā
50929LVS EN 60793-1-49:2004Optiskās šķiedras - 1-49.daļa: Mērīšanas metodes un testēšanas procedūras - Aizkaves diferenciālais stāvoklisAtcelts
56804LVS EN 60793-1-49:2006Optiskās šķiedras. 1-49.daļa: Mērīšanas metodes un testēšanas procedūras. Aizkaves modālā starpībaAtcelts
Attēlo no 361. līdz 370. no pavisam 638 ieraksta(-iem).