CLC/TC 86A
| Reģistrācijas numurs (WIID) | Projekta Nr. | Nosaukums | Statuss |
|---|---|---|---|
| 42240 | LVS EN 60793-1-47:2002 | Optiskās šķiedras - 1-47.daļa: Mērīšanas metodes un testēšanas procedūras - Makronolieces radītie zudumi | Atcelts |
| 55056 | LVS EN 60793-1-47:2007 | Optiskās šķiedras. 1-47. daļa: Mērīšanas metodes un testēšana. Makroizliekumu radītie zudumi | Atcelts |
| 57917 | LVS EN 60793-1-47:2009 | Optiskās šķiedras. 1-47. daļa: Mērīšanas metodes un testēšana. Makroizliekumu radītie zudumi (IEC 60793-1-47:2009) | Atcelts |
| 56808 | LVS EN 60793-1-48:2004 | Optiskās šķiedras - 1-48.daļa: Mērīšanas metodes un testēšanas procedūras - Dispersija polarizācijas stāvoklī | Atcelts |
| 55873 | LVS EN 60793-1-48:2008 | Optiskās šķiedras. 1-48. daļa: Mērīšana un testēšana. Dispersija polarizācijas stāvoklī | Atcelts |
| 61525 | LVS EN 60793-1-48:2018 | Optiskās šķiedras. 1-48.daļa: Mērīšanas metodes un testēšanas procedūras. Dispersija polarizācijas stāvoklī (IEC 60793-1-48:2017) | Standarts spēkā |
| 50929 | LVS EN 60793-1-49:2004 | Optiskās šķiedras - 1-49.daļa: Mērīšanas metodes un testēšanas procedūras - Aizkaves diferenciālais stāvoklis | Atcelts |
| 56804 | LVS EN 60793-1-49:2006 | Optiskās šķiedras. 1-49.daļa: Mērīšanas metodes un testēšanas procedūras. Aizkaves modālā starpība | Atcelts |
| 42822 | LVS EN 60793-1-50:2002 | Optiskās šķiedras - 1-50.daļa: Mērīšanas metodes un testēšanas procedūras - Mitrs karstums (nemainīgs) | Atcelts |
| 43304 | LVS EN 60793-1-50:2015 | Optiskās šķiedras. 1-50.daļa: Mērīšanas metodes. Mitra karstuma (nemainīgs) tests (IEC 60793-1-50:2014) | Standarts spēkā |
Attēlo no 361. līdz 370. no pavisam 632 ieraksta(-iem).