CLC/TC 65X
| Reģistrācijas numurs (WIID) | Projekta Nr. | Nosaukums | Statuss |
|---|---|---|---|
| 66579 | CLC/TR 62453-51-60:2019 | Field device tool (FDT) interface specification - Part 51-60: Communication implementation for common object model - IEC 61784 CPF 6 | Izstrādē |
| 68570 | EN IEC 61326-2-5:2021 | Mērīšanas, vadības un laboratorijas elektroiekārtas. EMC prasības. 2-5.daļa: Īpašās prasības. Testa konfigurācijas, darbības režīmi un veiktspējas kritēriji lokālām ierīcēm ar industriālo maģistrāļu saskarnēm saskaņā ar IEC 61784-1 | Izstrādē |
| 68574 | EN IEC 61326-2-3:2021 | Drošuma prasības elektriskajiem mērīšanas, vadības un laboratorisko procesu aparātiem. Elektromagnētiskās saderības (EMS) prasības. 2-3. daļa: Īpašās prasības. Testēšanas konfigurācija, darbības režīmi un veiktspējas kritēriji magnētiskajiem mērpārveidotājiem ar integrētu vai atsevišķu signāla priekšveidošanu | Izstrādē |
| 83847 | prEN IEC 61158-2-0 | Industrial networks - Fieldbus specifications - Part 2-0: Physical layer specification and service definition - General concepts and terminology | Izstrādē |
| 82887 | prEN IEC 62443-2-4 | Sécurité des automatismes industriels et des systèmes de commande - Partie 2-4: Exigences de programme de sécurité pour les fournisseurs de service iacs | Izstrādē |
| 75975 | EN IEC 61512-1:2026 | Contrôle-commande des processus de fabrication par lots (batch) - Partie 1: Modèles et terminologie | Izstrādē |
| 84101 | FprEN IEC 61508-2-1:2026 | Functional safety of electrical/electronic/programmable electronic safety-related systems - Part 2-1: Requirements for semiconductors | Izstrādē |
| 84134 | prEN IEC 61512-0 | Batch control - Part 0: Life cycle model for batch control | Izstrādē |
| 84196 | prEN IEC 61499-1 | Funktionsbausteine für industrielle Leitsysteme - Teil 1: Architektur | Izstrādē |
| 84461 | prEN IEC 61784-5-3 | Industrial networks - Profiles - Part 5-3: Installation of fieldbuses - Installation profiles for CPF 3 | Izstrādē |
Attēlo no 171. līdz 180. no pavisam 1820 ieraksta(-iem).
