CLC/TC 210
| Reģistrācijas numurs (WIID) | Projekta Nr. | Nosaukums | Statuss |
|---|---|---|---|
| 74971 | prEN IEC 55032 | Electromagnetic compatibility of multimedia equipment - Emission requirements | Izstrādē |
| 79520 | prEN IEC 55032 | Compatibilité électromagnétique des équipements multimédia - Exigences d'émission | Izstrādē |
| 80682 | prEN IEC 55035 | Compatibilité électromagnétique des équipements multimédia - Exigences d'immunité | Izstrādē |
| 74736 | prEN IEC 55037 | Industrial, scientific and medical equipment - Radio-frequency disturbance characteristics - Limits and methods for measurements in situ | Izstrādē |
| 77262 | prEN IEC 61000-2-4 {frag1} | Fragment 1: Electromagnetic compatibility (EMC) - Part 2-4: Environment - Compatibility levels in power distribution systems in industrial locations for low-frequency conducted disturbances | Izstrādē |
| 77263 | prEN IEC 61000-2-4 {frag2} | Fragment 2: Compatibilité électromagnétique (CEM) - Partie 2-4: Environnement - Niveaux de compatibilité dans les installations industrielles pour les perturbations conduites à basse fréquence | Izstrādē |
| 79807 | prEN IEC 61000-3-3 | Compatibilté électromagnétique (CEM) - Partie 3-3: Limites - Limitation des variations de tension, des fluctuations de tension et du papillotement dans les réseaux publics d'alimentation basse tension, pour les matériels ayant un courant assigné ≤16 a par phase et non soumis à un raccordement conditionnel | Izstrādē |
| 75029 | prEN IEC 61000-4-29:2025 | Electromagnetic compatibility (EMC) - Part 4-29: Testing and measurement techniques - Voltage dips, short interruptions and voltage variations on d.c. input power port immunity tests | Aptauja slēgta |
| 78453 | prEN IEC 61000-4-29 {frag1} | Partie 4-29: Techniques d'essai et de mesure - Essais d'immunité aux creux de tension, coupures brèves et varations de tension sur les accès d'alimentation en courant continu | Izstrādē |
| 78454 | prEN IEC 61000-4-29 {frag2} | Part 4-29: Testing and measurement techniques - Voltage dips, short interruptions and voltage variations on d.c. input power port immunity tests (Introduction of an annex related to the DC environment) | Izstrādē |
Attēlo no 1211. līdz 1220. no pavisam 1226 ieraksta(-iem).