Reģistrācijas numurs (WIID)Projekta Nr.NosaukumsStatuss
80811LVS EN IEC 61757-1-4:2026Optisko šķiedru sensori. 1-4.daļa: Tenzometrija. Dalīts mērījums ar Reilija izkliedi (IEC 61757-1-4:2025)Standarts spēkā
74335LVS EN IEC 61290-1:2022Optiskie pastiprinātāji. Testēšanas metodes. 1.daļa: Optiskās jaudas un pastiprinājuma parametri (IEC 61290-1:2022)Standarts spēkā
71076LVS EN IEC 61757-5-1:2021Optisko šķiedru sensori. 5-1.daļa: Slīpuma mērīšana. Šķiedras Brega režģa slīpuma sensori (IEC 61757-5-1:2021)Standarts spēkā
52411LVS EN 61280-2-11:2006Šķiedroptisko sakaru apakšsistēmu testēšana. 2-11.daļa: Digitālās sistēmas. Metode, kā optiskā signāla kvalitātes pārraudzīšanas nolūkā pēc amplitūdas histogrammas parametriem noteikt vidējotu Q koeficientuStandarts spēkā
60195LVS EN 62572-3:2016Aktīvie šķiedroptiskie komponenti un ierīces. Uzticamības standarti. 3.daļa: Lāzermoduļi telekomunikācijā (IEC 62572-3:2016)Standarts spēkā
74076LVS EN IEC 62149-4:2023Optiskās šķiedras aktīvie komponenti un ierīces. Veiktspējas standarti. 4.daļa: 1300 nm optiskās šķiedras raiduztvērēji Gigabit Ethernet datortīklos (IEC 62149-4:2022)Standarts spēkā
42433LVS EN 61290-3-3:2014Optiskie pastiprinātāji. Testēšanas metodes. 3-3. daļa: Trokšņa koeficienta parametri. Signāla jaudas attiecība pret kopējo ASE jaudu (IEC 61290-3-3:2013)Standarts spēkā
79427LVS EN IEC 62148-11:2025Optiskās šķiedras aktīvie komponenti un ierīces. Pakešu un saskarņu standarti. 11.daļa: 14 kontaktu modulatora integrētie lāzerdiožu moduļi un sūkņa lāzerdiožu moduļi (IEC 62148-11:2024)Standarts spēkā
64199LVS EN IEC 61757:2019Optisko šķiedru sensori. Kopspecifikācija (IEC 61757:2018)Standarts spēkā
75378LVS EN 62007-1:2015/A1:2023Optisko šķiedru sistēmu optoelektroniskās pusvadītājierīces. 1.daļa: Būtiskāko robežvērtību un raksturlielumu specifikācijas veidne (IEC 62007-1:2015/AMD1:2022)Standarts spēkā
Attēlo no 101. līdz 110. no pavisam 458 ieraksta(-iem).