Reģistrācijas numurs (WIID)Projekta Nr.NosaukumsStatuss
54674LVS EN 62148-2:2003Aktīvie šķiedroptiskie komponenti un ierīces - Korpusu un saskarņu (interfeisu) standarti - 2.daļa: SFF MT-RJ 10 kontaktu raiduztvērējiAtcelts
55675LVS EN 61291-4:2003Šķiedroptiskie pastiprinātāji - 4.daļa: Vairākkanālu lietojumi - Darbībspecifikācijas modelisAtcelts
50398LVS EN 61280-2-1:2003Šķiedroptiskās sakaru apakšsistēmas testēšanas pamatprocedūras - 2-1.daļa: Digitālo sistēmu testēšanas procedūras - Uztvērēja jutības un pārslodzes mērīšanaAtcelts
42288LVS EN 61290-1-2:2003Šķiedroptiskie pastiprinātāji - Pamatspecifikācija - 1-2.daļa: Testēšanas metodes pastiprinājuma parametru noteikšanai - Spektra elektriskais analizatorsAtcelts
51931LVS EN 61290-1-3:2003Šķiedroptiskie pastiprinātāji - Pamatspecifikācija - 1-3.daļa: Testēšanas metodes pastiprinājuma parametru noteikšanai - Optiskās jaudas mērītājsAtcelts
51152LVS EN 61290-2-1:2003Šķiedroptiskie pastiprinātāji - Pamatspecifikācija - 2-1.daļa: Testēšanas metodes optiskās jaudas parametru noteikšanai - Spektra optiskais analizatorsAtcelts
57424LVS EN 61280-2-2:2003Šķiedroptiskās sakaru apakšsistēmas testēšanas pamatprocedūras - 2-2.daļa: Digitālo sistēmu testēšanas procedūras - Okulārdiagramma, viļņa forma, vājinājuma koeficientsAtcelts
54426LVS EN 61290-2-3:2003Šķiedroptiskie pastiprinātāji - Pamatspecifikācija - 2-3.daļa: Testēšanas metodes optiskās jaudas parametru noteikšanai - Optiskās jaudas mērītājsAtcelts
47775LVS EN 62343-3-3:2015Dinamiskie moduļi. 3-3.daļa: Veiktspējas specifikācijas veidnes. No viļņa garuma atkarīgie slēdži (IEC 62343-3-3:2014)Atcelts
44607LVS EN 61280-2-2:2009Šķiedroptiskās sakaru apakšsistēmas testēšanas procedūras. 2-2. daļa: Digitālās sistēmas. Okulārdiagrammas un viļņa formas parametru mērīšana un vājinājuma koeficienta rēķināšana (IEC 61280-2-2:2008)Atcelts
Attēlo no 231. līdz 240. no pavisam 458 ieraksta(-iem).