Reģistrācijas numurs (WIID)Projekta Nr.NosaukumsStatuss
57840LVS EN 62343-5-1:2010Dinamiskie moduļi. Testēšanas metodes. 5-1. daļa: Dinamiskās raksturlīknes izlīdzinātājs. Reakcijas laika mērīšana (IEC 62343-5-1:2009)Atcelts
58471LVS EN 62343-5-1:2015Dinamiskie moduļi. Testēšanas metodes. 5-1.daļa: Dinamiskās raksturlīknes izlīdzinātājs. Reakcijas laika mērīšana (IEC 62343-5-1:2014)Standarts spēkā
50537LVS EN 62572-3:2012Aktīvie šķiedroptiskie komponenti un ierīces. Uzticamības standarti. 3. daļa: Lāzermoduļi telekomunikācijā (IEC 62572-3:2011)Atcelts
57703LVS EN 62572-3:2015Aktīvie šķiedroptiskie komponenti un ierīces. Uzticamības standarti. 3.daļa: Lāzermoduļi telekomunikācijā (IEC 62572-3:2014)Atcelts
60195LVS EN 62572-3:2016Aktīvie šķiedroptiskie komponenti un ierīces. Uzticamības standarti. 3.daļa: Lāzermoduļi telekomunikācijā (IEC 62572-3:2016)Standarts spēkā
72049LVS EN IEC 61280-1-3:2021Optiskās šķiedras sakaru apakšsistēmas testēšanas procedūras. 1-3.daļa: Vispārīgās sakaru apakšsistēmas. Centrālā viļņu garuma, spektrālā platuma un papildu spektrālo raksturlielumu mērīšana (IEC 61280-1-3:2021)Standarts spēkā
75683LVS EN IEC 61280-1-4:2023Optiskās šķiedras sakaru apakšsistēmas testēšanas procedūras. 1-4.daļa: Vispārīgas sakaru apakšsistēmas. Metode gaismas avota apkārtējās plūsmas mērīšanai (IEC 61280-1-4:2023)Standarts spēkā
78096LVS EN IEC 61280-2-13:2024Šķiedroptiskās sakaru apakšsistēmas testēšanas procedūras. 2-13.daļa: Digitālās sistēmas. Kļūdas vektora lieluma mērīšana (IEC 61280-2-13:2024)Standarts spēkā
71038LVS EN IEC 61280-2-8:2021Optiskās šķiedras sakaru apakšsistēmas testēšanas procedūras. 2-8.daļa: Digitālās sistēmas. Zema bitu kļūdu koeficienta (BER) noteikšana ar Q koeficienta mērījumiem (IEC 61280-2-8:2021)Standarts spēkā
63072LVS EN IEC 61280-4-1:2019Optiskās šķiedras sakaru apakšsistēmas testēšanas procedūras. 4-1.daļa: Instalēta kabeļu infrastruktūra. Daudzmodu signāla vājināšanās mērīšana (IEC 61280-4-1:2019)Standarts spēkā
Attēlo no 371. līdz 380. no pavisam 458 ieraksta(-iem).