Reģistrācijas numurs (WIID)Projekta Nr.NosaukumsStatuss
54022EN 61751:1998Lasermodule für Telekommunikationsanwendungen - ZuverläsigkeitsbewertungAtcelts
56520EN 62007-1:2000Optoelektronische Halbleiterbauelemente für faseroptische Systemanwendungen - Teil 1: Wesentliche Grenz- und KennwerteAtcelts
56002EN 62007-2:2000Dispositifs optoélectroniques à semiconducteurs pour application dans les systèmes à fibres optiques - Partie 2: Méthodes de mesureAtcelts
60111EN 62129-1:2016Kalibrierung von Messgeräten für die Wellenlänge/optische Frequenz - Teil 1: Optische SpektrumanalysatorenIzstrādē
43560EN 62129:2006Etalonnage des analyseurs de spectre optiqueAtcelts
44695EN 62129:2006/corrigendum Dec. 2006Etalonnage des analyseurs de spectre optiqueAtcelts
54553EN 62129-2:2011Kalibrierung von Messgeräten für die Wellenlänge/optische Frequenz - Teil 2: Michelson-Interferometer-Einzelwellenlängen-MessgeräteStandarts spēkā
55702EN 62496-1:2009Cartes à circuits optiques - Partie 1: GénéralitésIzstrādē
51383EN 62496-2-1:2011Optical circuit boards - Part 2-1: Measurements - Optical attenuation and isolationIzstrādē
62742EN 62496-2:2017Cartes à circuits optiques - Procédures fondamentales d'essais et de mesures - Partie 2: Recommandations générales relatives à la détermination des conditions de mesure des caractéristiques optiques des cartes à circuits optiquesIzstrādē
Attēlo no 11. līdz 20. no pavisam 76 ieraksta(-iem).