CLC/SR 86
| Reģistrācijas numurs (WIID) | Projekta Nr. | Nosaukums | Statuss |
|---|---|---|---|
| 54022 | EN 61751:1998 | Modules laser utilisés pour les télécommunications - Evaluation de la fiabilité | Atcelts |
| 56520 | EN 62007-1:2000 | Dispositifs optoélectroniques à semiconducteurs pour application dans les systèmes à fibres optiques - Partie 1: Valeurs limites et caractéristiques essentielles | Atcelts |
| 56002 | EN 62007-2:2000 | Optoelektronische Halbleiterbauelemente für faseroptische Systemanwendungen - Teil 2: Meßverfahren | Atcelts |
| 60111 | EN 62129-1:2016 | Calibration of wavelength/optical frequency measurement instruments - Part 1: Optical spectrum analyzers | Izstrādē |
| 43560 | EN 62129:2006 | Kalibrierung von optischen Spektrumanalysatoren | Atcelts |
| 44695 | EN 62129:2006/corrigendum Dec. 2006 | Etalonnage des analyseurs de spectre optique | Atcelts |
| 54553 | EN 62129-2:2011 | Calibration of wavelength/optical frequency measurement instruments - Part 2: Michelson interferometer single wavelength meters | Standarts spēkā |
| 55702 | EN 62496-1:2009 | Cartes à circuits optiques - Partie 1: Généralités | Izstrādē |
| 51383 | EN 62496-2-1:2011 | Optische Leiterplatten - Teil 2-1: Messungen - Optische Dämpfung und Isolation | Izstrādē |
| 62742 | EN 62496-2:2017 | Optical circuit boards - Basic test and measurement procedures - Part 2: General guidance for definition of measurement conditions for optical characteristics of optical circuit boards | Izstrādē |
Attēlo no 11. līdz 20. no pavisam 76 ieraksta(-iem).