CLC/SR 86
| Reģistrācijas numurs (WIID) | Projekta Nr. | Nosaukums | Statuss |
|---|---|---|---|
| 62702 | LVS EN IEC 61315:2019 | Optisko šķiedru iekārtu jaudas mērītāju kalibrēšana (IEC 61315:2019) | Standarts spēkā |
| 64961 | LVS EN IEC 61290-4-4:2019 | Optiskie pastiprinātāji. Testēšanas metodes. 4-4.daļa: Pastiprinājuma pārejas parametri. Vienkanāla optiskie pastiprinātāji ar pastiprinājuma vadību (IEC 61290-4-4:2018) | Standarts spēkā |
| 48733 | LVS EN 62614:2011 | Šķiedroptika. Prasības attiecībā uz ierosmes apstākļiem mērot daudzmodu vājinājumu (IEC 62614:2010) | Atcelts |
| 53669 | LVS EN 62522:2015 | Regulējamu lāzera avotu kalibrēšana (IEC 62522:2014) | Atcelts |
| 51553 | LVS EN 62496-4:2011 | Optiskās shēmplates. Saskarnes standarti. 4. daļa: Nostādnes un norādījumi (IEC 62496-4:2011) | Standarts spēkā |
| 45306 | LVS EN 62496-3:2011 | Optiskās shēmplates. 3. daļa: Veiktspējas standarts. Nostādnes un norādījumi (IEC 62496-3:2011) | Standarts spēkā |
| 49748 | LVS EN 62496-3-1:2010 | Optiskās shēmplates. Veiktspējas standarts. 3-1. daļa: Elastīgas optiskās shēmplates ar nesavienotām optiskajām stikla šķiedrām (IEC 62496-3-1:2009) | Standarts spēkā |
| 56620 | LVS EN 62496-2-4:2013 | Optiskās shēmplates. Testēšanas un mērīšanas pamatprocedūras. 2-4. daļa: Optiskās pārvades tests optiskajām shēmplatēm bez ieejas/izejas šķiedrām (IEC 62496-2-4:2013) | Standarts spēkā |
| 52524 | LVS EN 62496-2-2:2011 | Optiskās shēmplates. Mērījumi. 2-2. daļa: Optisko shēmplašu izmēri (IEC 62496-2-2:2011) | Standarts spēkā |
| 62742 | LVS EN 62496-2:2017 | Optiskās shēmplates. Testēšanas un mērīšanas pamatprocedūras. 2.daļa: Optisko shēmplašu optisko raksturlielumu mērīšanas nosacījumu noteikšanas vispārīgie norādījumi (IEC 62496-2:2017) | Standarts spēkā |
Attēlo no 11. līdz 20. no pavisam 76 ieraksta(-iem).