Reģistrācijas numurs (WIID)Projekta Nr.NosaukumsStatuss
62742LVS EN 62496-2:2017Optiskās shēmplates. Testēšanas un mērīšanas pamatprocedūras. 2.daļa: Optisko shēmplašu optisko raksturlielumu mērīšanas nosacījumu noteikšanas vispārīgie norādījumi (IEC 62496-2:2017)Standarts spēkā
56620EN 62496-2-4:2013Optical circuit boards - Basic test and measurement procedures - Part 2-4: Optical transmission test for optical circuit boards without input/output fibresStandarts spēkā
62702LVS EN IEC 61315:2019Optisko šķiedru iekārtu jaudas mērītāju kalibrēšana (IEC 61315:2019)Standarts spēkā
69633LVS EN IEC 62496-4-214:2020Optiskās drukātās shēmas plates. 4-214.daļa: Saskarnes standarti. Iepriekš samontēts OCB viļņvads ar vienas šķiedru rindas 32 kanālu simetrisku PMT savienotāju (IEC 62496-4-214:2020)Standarts spēkā
68959LVS EN IEC 62496-2-5:2023Optiskās drukātās shēmas plates. Testēšanas un mērīšanas pamatprocedūras. 2-5.daļa: Lokanu optoelektrisku shēmu lieces pārbaude (IEC 62496-2-5:2022)Standarts spēkā
59068LVS EN 61746-1:2011/AC:2015Laikatkarīgo optisko reflektometru (OTDR) kalibrēšana. 1.daļa: OTDR vienmodu šķiedrāmStandarts spēkā
53669EN 62522:2014Kalibrierung von abstimmbaren LaserquellenStandarts spēkā
75982EN IEC 62522:2024Etalonnage des sources laser accordablesStandarts spēkā
59069LVS EN 61746-2:2011/AC:2015Laikatkarīgo optisko reflektometru (OTDR) kalibrēšana. 2.daļa: OTDR daudzmodu šķiedrāmStandarts spēkā
63264LVS EN 61745:2018Gala virsmas attēla analīzes procedūra optisko šķiedru ģeometrijas testēšanas iekārtu kalibrēšanai (IEC 61745:2017)Standarts spēkā
Attēlo no 11. līdz 20. no pavisam 76 ieraksta(-iem).