CLC/SR 86
| Reģistrācijas numurs (WIID) | Projekta Nr. | Nosaukums | Statuss |
|---|---|---|---|
| 68959 | LVS EN IEC 62496-2-5:2023 | Optiskās drukātās shēmas plates. Testēšanas un mērīšanas pamatprocedūras. 2-5.daļa: Lokanu optoelektrisku shēmu lieces pārbaude (IEC 62496-2-5:2022) | Standarts spēkā |
| 64961 | EN IEC 61290-4-4:2018 | Amplificateurs optiques - Méthodes d'essai - Partie 4-4: Paramètres de gain transitoire - Amplificateurs optiques monocanaux avec commande de gain | Izstrādē |
| 64961 | LVS EN IEC 61290-4-4:2019 | Optiskie pastiprinātāji. Testēšanas metodes. 4-4.daļa: Pastiprinājuma pārejas parametri. Vienkanāla optiskie pastiprinātāji ar pastiprinājuma vadību (IEC 61290-4-4:2018) | Standarts spēkā |
| 64487 | LVS EN IEC 62496-4-1:2019 | Optiskās drukātās shēmas plates. 4-1.daļa: Saskarnes standarti. Iepriekš samontēts OCB viļņvads ar vienas šķiedru rindas 12 kanālu PMT savienotājiem (IEC 62496-4-1:2019) | Standarts spēkā |
| 64487 | EN IEC 62496-4-1:2019 | Cartes à circuits optiques - Partie 4-1: Normes d'interface - Terminaison d'un ensemble de cartes à circuits optiques à guide d'onde utilisant des connecteurs PMT de douze canaux sur une seule rangée | Izstrādē |
| 63265 | EN IEC 62129-3:2019 | Étalonnage des appareils de mesure de longueur d'onde/appareil de mesure de la fréquence optique - Partie 3: Fréquencemètres optiques faisant référence en interne à un peigne de fréquence | Izstrādē |
| 63265 | LVS EN IEC 62129-3:2019 | Viļņa garuma/optiskās frekvences mērinstrumentu kalibrēšana. 3.daļa: Optiskie frekvences mērītāji ar iekšēju atsauci uz frekvenču ķemmi (IEC 62129-3:2019) | Standarts spēkā |
| 63264 | LVS EN 61745:2018 | Gala virsmas attēla analīzes procedūra optisko šķiedru ģeometrijas testēšanas iekārtu kalibrēšanai (IEC 61745:2017) | Standarts spēkā |
| 63264 | EN 61745:2017 | Endflächen-Bildanalyseverfahren für die Kalibrierung von Prüfeinrichtungen für die Geometrie von Lichtwellenleitern | Izstrādē |
| 62742 | EN 62496-2:2017 | Optical circuit boards - Basic test and measurement procedures - Part 2: General guidance for definition of measurement conditions for optical characteristics of optical circuit boards | Izstrādē |
Attēlo no 11. līdz 20. no pavisam 76 ieraksta(-iem).