CLC/SR 86
| Reģistrācijas numurs (WIID) | Projekta Nr. | Nosaukums | Statuss |
|---|---|---|---|
| 68959 | LVS EN IEC 62496-2-5:2023 | Optiskās drukātās shēmas plates. Testēšanas un mērīšanas pamatprocedūras. 2-5.daļa: Lokanu optoelektrisku shēmu lieces pārbaude (IEC 62496-2-5:2022) | Standarts spēkā |
| 64961 | EN IEC 61290-4-4:2018 | Optische Verstärker - Prüfverfahren - Teil 4-4: Transiente Verstärkerparameter - Einkanal-LWL-Verstärker mit Ausgangsleistungsregelung | Izstrādē |
| 64961 | LVS EN IEC 61290-4-4:2019 | Optiskie pastiprinātāji. Testēšanas metodes. 4-4.daļa: Pastiprinājuma pārejas parametri. Vienkanāla optiskie pastiprinātāji ar pastiprinājuma vadību (IEC 61290-4-4:2018) | Standarts spēkā |
| 64487 | LVS EN IEC 62496-4-1:2019 | Optiskās drukātās shēmas plates. 4-1.daļa: Saskarnes standarti. Iepriekš samontēts OCB viļņvads ar vienas šķiedru rindas 12 kanālu PMT savienotājiem (IEC 62496-4-1:2019) | Standarts spēkā |
| 64487 | EN IEC 62496-4-1:2019 | Cartes à circuits optiques - Partie 4-1: Normes d'interface - Terminaison d'un ensemble de cartes à circuits optiques à guide d'onde utilisant des connecteurs PMT de douze canaux sur une seule rangée | Izstrādē |
| 63265 | EN IEC 62129-3:2019 | Calibration of wavelength/optical frequency measurement instruments - Part 3:Optical frequency meters internally referenced to a frequency comb | Izstrādē |
| 63265 | LVS EN IEC 62129-3:2019 | Viļņa garuma/optiskās frekvences mērinstrumentu kalibrēšana. 3.daļa: Optiskie frekvences mērītāji ar iekšēju atsauci uz frekvenču ķemmi (IEC 62129-3:2019) | Standarts spēkā |
| 63264 | LVS EN 61745:2018 | Gala virsmas attēla analīzes procedūra optisko šķiedru ģeometrijas testēšanas iekārtu kalibrēšanai (IEC 61745:2017) | Standarts spēkā |
| 63264 | EN 61745:2017 | End-face image analysis procedure for the calibration of optical fibre geometry test sets | Izstrādē |
| 62742 | EN 62496-2:2017 | Cartes à circuits optiques - Procédures fondamentales d'essais et de mesures - Partie 2: Recommandations générales relatives à la détermination des conditions de mesure des caractéristiques optiques des cartes à circuits optiques | Izstrādē |
Attēlo no 11. līdz 20. no pavisam 76 ieraksta(-iem).